公益サービス（受託分析）、解析・評価技術の普及を目的として事業を展開しています。ユーザーの皆様からは高精度な解析・評価で高い評価を得ています。

代表的な分析手法の原理と得られる情報をまとめました。
リンクページがない手法も対応可能です。また、一覧にない手法の他にも様々な分析手法を取り扱っております。

詳しい分析技術情報や分析をご希望の方は、こちら（受託分析受付部門）までお問い合わせください。

手法名	略名
二次イオン質量分析法	（SIMS）
走査型白色干渉計
X線光電子分光分析法	（XPS / ESCA）
オージェ電子分光法	（AES）
誘導結合プラズマ質量分析法	（ICP-MS）
誘導結合プラズマ発光分光法	（ICP-AES）
走査電子顕微鏡法	（SEM）
エネルギー分散型X線分光法	（SEM-EDX）
Slice and View	（Slice & View）
電子後方散乱回折像法	（EBSD）
エミッション顕微鏡法	（EMS）
集束イオンビーム	（SIM（FIB））
電子線マイクロアナライザー	（EPMA）
透過電子顕微鏡法	（TEM）
球面収差補正機能（Csコレクター）付きSTEM　New !!
電子線トモグラフィー　New !!	（3D-TEM）
電子線ホログラフィー		※
電子線エネルギー損失分光法	（TEM-EELS）	※
エネルギー分散型X線分光法	（TEM-EDX）
飛行時間型二次イオン質量分析法	（ToF-SIMS）
走査型キャパシタンス顕微鏡法	（SCM）
原子間力顕微鏡法	（AFM）
走査型拡がり抵抗（広がり抵抗）顕微鏡法	（SSRM）	※
X線回折法	（XRD）
X線反射率法	（XRR）
液体クロマトグラフィー質量分析法	（LC-MS）
ラマン分光分析法	（RAMAN）
フーリエ変換赤外分光分析法	（FT-IR）

分析訪問セミナーのご案内

ご要望に応じて、出張訪問し分析訪問セミナーを行ないます。 分析訪問セミナーに関するお問い合わせはこちらまで 訪問セミナーに関するお問い合わせ