分析事例

さまざまな分析手法を用いて分析を行った事例をご紹介します。

最近更新の分析事例

2012年05月17日
「キトサンの分布評価」を追加
2012年05月03日
「薄膜アモルファスSi太陽電池中のドーパント濃度分布評価」を追加
2012年04月26日
「UVセンサ　AlGaN中不純物濃度の高精度評価」を追加
2012年04月12日
「Si酸化膜・ITO膜中の「水」の評価」を追加
2012年03月29日
「有機EL層の定性分析」を追加
2012年02月16日
「リチウムイオン二次電池 電解液の劣化成分分析」を追加
2012年01月26日
「本革・合成皮革のにおい成分分析」を追加
2012年01月26日
「クリーンルーム内雰囲気の分析」を追加
2012年01月26日
「大気中　揮発性有機化合物の高感度分析」を追加
2012年01月26日
「自動車排気ガス中有機化合物の高感度分析」を追加

分析事例一覧

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質量分析法
SIMS （二次イオン質量分析法）
TOF-SIMS （飛行時間型二次イオン質量分析法）
ICP-MS （誘導結合プラズマ質量分析法）
GC/MS （ガスクロマトグラフィー質量分析法 ）
LC/MS （液体クロマトグラフィー質量分析法）
LC/MS/MS （液体クロマトグラフィー質量分析法）
光電子分光法
XPS （X線光電子分光法）
UPS （紫外光電子分光法）
電子顕微鏡観察・分析
AES （オージェ電子分光法）
SEM （走査電子顕微鏡法）
EBIC （電子線誘起電流法）
EBSD （電子後方散乱回折法）
EDX （エネルギー分散型X線分光法）
EPMA （電子線マイクロ分析法）
TEM （透過電子顕微鏡法）
EELS （電子線エネルギー損失分光法）
SIM （走査イオン顕微鏡法）
振動分光
FT-IR （フーリエ変換赤外分光法）
Raman （ラマン分光法）
X線回折関連
XRD （X線回折法）
SAXS （X線小角散乱法）
XRR （X線反射率法）
SPM関連
AFM （原子間力顕微鏡法）
SCM （走査型静電容量顕微鏡法）
SSRM （走査型広がり抵抗顕微鏡法）
そのほかの測定法
白色干渉計測法
TG-DTA-MS,DSC （熱分析）
EMS （エミッション顕微鏡法）
PL （フォトルミネッセンス法）

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