はんだ剥離部断面のTOF-SIMS分析(C0450)
微小領域の無機・有機物の分布評価が可能です
概要
はんだの剥離原因究明には、はんだと基板界面の成分分析を行うことが有効です。
TOF-SIMSは元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできることや、イメージ分析が可能なことから、剥離部の評価に適した手法です。
本資料では、はんだの剥離部断面を分析した事例を示します。基板成分・樹脂成分・樹脂以外の有機成分の分布が確認できました。
データ
結果
剥離部に樹脂成分に由来するC5H9,C6H5や金属成分Mが分布しております。その他、樹脂成分以外のC7H11が分布しており、剥離の原因として示唆されます。