ポリカーボネートの劣化層の評価(C0368)

TOF-SIMSを用いることで劣化層の膜厚を評価することが可能

概要

ポリカーボネート(PC)は熱可塑性プラスチックの一種であり、優れた透明性・耐衝撃性・耐熱性などの特長をもち、太陽電池パネル・メガネレンズ・CD・車載部品・医療機器の材料として、幅広く活用されております。今回、スパッタイオンビームにGCIB(Arクラスター)を用いてTOF-SIMS分析を行い、紫外線(UV)照射によるポリカーボネート表面の劣化層の評価を行いました。
※GCIB:Gas Cluster Ion Beam

データ

ポリカーボネート(PC)に3分・10分・30分の紫外線(UV)処理を行い、表面を劣化させたサンプルを用意しました。ポリカーボネートに由来するフラグメントイオンのデプスプロファイルを図1に示します。
紫外線処理を行ったサンプルでは深さ130nm程度までの領域でイオン強度が減少していました。
これは紫外線処理によってポリカーボネートが分解し、劣化していることを示唆しています。
また、処理時間が長いほど分解が進んでいますが、最大劣化深さは変化しないことが確認されました。
GCIBを用いることで高分子材料における100nm以下の劣化層の厚さを評価することが可能です。

ポリカーボネート表面の劣化評価(C0356)は
こちらからご覧ください。

MST技術資料No.C0368
掲載日2020/05/06
測定法・加工法[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
製品分野電子部品
太陽電池
日用品
分析目的化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価

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