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分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
有機EL(OLED)の材料構造評価 2017/09/28 有機EL(OLED)の材料構造評価(C0490) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価
膜厚評価
故障解析・不良解析
製品調査
XRFによるウエハ上Au薄膜の面内膜厚評価 2017/08/24 XRFによるウエハ上Au薄膜の面内膜厚評価(C0480) [XRF]蛍光X線分析法
パワーデバイス
照明
製造装置・部品
組成評価・同定
組成分布評価
XRFによるウエハ上Au薄膜の付着量評価 2017/08/24 XRFによるウエハ上Au薄膜の付着量評価(C0479) [XRF]蛍光X線分析法
パワーデバイス
照明
製造装置・部品
組成評価・同定
組成分布評価
XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価 2017/06/29 XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価(C0472) [XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
照明
化学結合状態評価
構造評価
酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価 2017/03/16 酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価(C0462) [XPS]X線光電子分光法
[XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
太陽電池
照明
酸化物半導体
その他
エポキシ樹脂の構造解析 2016/11/17 エポキシ樹脂の構造解析(C0448) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
製品調査
MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)について 2016/03/10 MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)について(B0221) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析 2016/03/10 MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析(C0413) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの評価 2016/02/25 MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの評価(C0411) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
有機膜材料の配向角評価 2015/08/20 有機膜材料の配向角評価(B0215) [XAFS]X線吸収微細構造
電子部品
太陽電池
照明
ディスプレイ
日用品
化学結合状態評価
構造評価
XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価 2015/05/21 XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価(C0381) [XPS]X線光電子分光法
パワーデバイス
光デバイス
照明
ディスプレイ
酸化物半導体
組成評価・同定
化学結合状態評価
低温フォトルミネッセンス測定の注意事項 2015/05/14 低温フォトルミネッセンス測定の注意事項(B0208) [PL]フォトルミネッセンス法
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
照明
ディスプレイ
構造評価
マイクロサンプリングツールを用いた異物分析 2015/03/26 マイクロサンプリングツールを用いた異物分析(C0363) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
[Raman]ラマン分光法
その他
電子部品
照明
ディスプレイ
製造装置・部品
日用品
組成評価・同定
化学結合状態評価
故障解析・不良解析
マススペクトルシミュレーションによる構造解析 2014/05/22 マススペクトルシミュレーションによる構造解析(C0295) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
計算科学・データ解析
照明
ディスプレイ
製造装置・部品
化学結合状態評価
製品調査
マススペクトルシミュレーションのご紹介 2014/05/22 マススペクトルシミュレーションのご紹介(B0186) [LC/MS/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
計算科学・データ解析
照明
ディスプレイ
製造装置・部品
化学結合状態評価
製品調査
定量計算における妨害ピーク除去処理 2014/02/20 定量計算における妨害ピーク除去処理(B0189) [XPS]X線光電子分光法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
照明
製造装置・部品
バイオテクノロジ
組成評価・同定
組成分布評価
有機ELパネルの構造評価 2013/10/24 有機ELパネルの構造評価(C0311) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価
膜厚評価
製品調査
SIMSによる化合物半導体の組成分析 2013/02/28 SIMSによる化合物半導体の組成分析(C0288) [SIMS]二次イオン質量分析法
光デバイス
照明
組成評価・同定
SIMSによるGaN系LED構造の組成分析 2013/02/07 SIMSによるGaN系LED構造の組成分析(C0289) [SIMS]二次イオン質量分析法
パワーデバイス
光デバイス
照明
組成評価・同定
GaN系LED構造中MgのSSDP-SIMS分析 2013/02/07 GaN系LED構造中MgのSSDP-SIMS分析(C0293) [SIMS]二次イオン質量分析法
[SSDP用加工]基板側からの測定用加工
その他
パワーデバイス
光デバイス
照明
微量濃度評価
製品調査
化合物積層構造試料のSIMS分析 2012/12/27 化合物積層構造試料のSIMS分析(C0269) [SIMS]二次イオン質量分析法
その他
パワーデバイス
光デバイス
照明
ディスプレイ
微量濃度評価
SiC基板の品質評価 2012/12/13 SiC基板の品質評価(C0280) [SIMS]二次イオン質量分析法
[XRD]X線回折法
[AFM]原子間力顕微鏡法
[PL]フォトルミネッセンス法
パワーデバイス
照明
微量濃度評価
形状評価
構造評価
故障解析・不良解析
GaN系LED構造中不純物の深さ方向濃度分析 2012/12/06 GaN系LED構造中不純物の深さ方向濃度分析(C0251) [SIMS]二次イオン質量分析法
その他
パワーデバイス
光デバイス
照明
微量濃度評価
製品調査
テクスチャ付きGaN系LEDの元素分布評価 2012/12/06 テクスチャ付きGaN系LEDの元素分布評価(C0248) [SIMS]二次イオン質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SSDP用加工]基板側からの測定用加工
その他
パワーデバイス
照明
ディスプレイ
微量濃度評価
製品調査
特殊形状試料のSIMS測定 2012/11/29 特殊形状試料のSIMS測定(C0266) [SIMS]二次イオン質量分析法
その他
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
照明
製造装置・部品
その他
Si基板へのAl,Gaの拡散評価 2012/11/29 Si基板へのAl,Gaの拡散評価(C0267) [SIMS]二次イオン質量分析法
[SSDP用加工]基板側からの測定用加工
パワーデバイス
光デバイス
照明
微量濃度評価
白色LEDのフォトルミネッセンス分析 2012/09/13 白色LEDのフォトルミネッセンス分析(C0253) [PL]フォトルミネッセンス法
[IP法]Arイオン研磨加工
その他
光デバイス
照明
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
その他
ポリイミド成分の深さ方向分析 2012/06/07 ポリイミド成分の深さ方向分析(C0242) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
光デバイス
電子部品
照明
ディスプレイ
日用品
化学結合状態評価
組成分布評価
劣化調査・信頼性評価
GCIB(Arクラスター)を用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析 2012/06/07 GCIB(Arクラスター)を用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析(C0241) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
組成分布評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
RGB素子の有機EL材料の深さ方向分析 2012/06/07 RGB素子の有機EL材料の深さ方向分析(C0243) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
照明
ディスプレイ
化学結合状態評価
組成分布評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査

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