分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
深紫外LED中Mgの深さ方向濃度分析 2023/03/23 深紫外LED中Mgの深さ方向濃度分析(C0692) [SIMS]二次イオン質量分析法
パワーデバイス
光デバイス
照明
ディスプレイ
微量濃度評価
製品調査
不純物評価・分布評価
撥水箇所の成分分析 2023/02/02 撥水箇所の成分分析(C0686) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
電子部品
照明
ディスプレイ
製造装置・部品
酸化物半導体
高分子材料
日用品
組成分布評価
不純物評価・分布評価
耐候性試験による製品劣化調査 2022/08/11 耐候性試験による製品劣化調査(C0676) その他
耐候性試験
光デバイス
電子部品
太陽電池
照明
ディスプレイ
日用品
劣化調査・信頼性評価
製品調査
安全性試験
NMR(核磁気共鳴分析)による構造解析ー軽溶媒そのままの測定ー 2022/01/13 NMR(核磁気共鳴分析)による構造解析ー軽溶媒そのままの測定ー(B0276) [NMR]核磁気共鳴分析
照明
ディスプレイ
高分子材料
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
食品
構造評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
蛍光光度計によるりん光の発光寿命測定及びりん光測定 2021/12/16 蛍光光度計によるりん光の発光寿命測定及びりん光測定(B0274) 蛍光光度法
照明
ディスプレイ
日用品
製品調査
マテリアルズインフォマティクス(MI)を用いた 新規有機半導体材料の構造探索 2021/06/17 マテリアルズインフォマティクス(MI)を用いた 新規有機半導体材料の構造探索(C0652) 計算科学・AI・データ解析
太陽電池
照明
ディスプレイ
医薬品
化粧品
日用品
その他
その他
量子化学計算による色素分子の UV-Visスペクトルシミュレーション 2021/06/10 量子化学計算による色素分子の UV-Visスペクトルシミュレーション(C0651) [UV-Vis]紫外可視分光法
計算科学・AI・データ解析
照明
ディスプレイ
化粧品
日用品
化学結合状態評価
固体試料表面の質量分析法の使い分け 2021/03/11 固体試料表面の質量分析法の使い分け(B0266) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
その他
照明
ディスプレイ
製造装置・部品
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
食品
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
液体クロマトグラフ-フーリエ変換質量分析法 2021/01/14 液体クロマトグラフ-フーリエ変換質量分析法(B0264) [LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
照明
ディスプレイ
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
食品
環境
化学結合状態評価
安全性試験
信頼性試験の一覧 2020/10/08 信頼性試験の一覧(B0263) その他
耐候性試験
恒温恒湿試験
TCC試験
熱衝撃試験
振動試験
衝撃試験
接合強度試験
はんだ耐熱性試験
はんだ濡れ性試験
気密性試験
PIND試験
ESD試験
パワーデバイス
光デバイス
電子部品
太陽電池
照明
ディスプレイ
製造装置・部品
故障解析・不良解析
劣化調査・信頼性評価
半導体中キャリアの直流電圧依存性評価 2020/10/01 半導体中キャリアの直流電圧依存性評価(C0628) [SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
照明
酸化物半導体
形状評価
製品調査
量子化学計算から分かること 2020/06/25 量子化学計算から分かること(B0257) 計算科学・AI・データ解析
照明
ディスプレイ
医薬品
化粧品
日用品
食品
環境
化学結合状態評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
TOF-SIMS・LC/MSによる有機EL(OLED)の構造評価 2020/04/30 TOF-SIMS・LC/MSによる有機EL(OLED)の構造評価(C0490) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価
膜厚評価
故障解析・不良解析
製品調査
TEM・SEMによる有機EL(OLED)・ゲート酸化膜の断面観察 2020/04/30 TEM・SEMによる有機EL(OLED)・ゲート酸化膜の断面観察(C0090) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
LSI・メモリ
太陽電池
照明
ディスプレイ
形状評価
膜厚評価
有機EL材料(OLED)のTOF-SIMSによるRGB素子深さ方向分析 2020/04/30 有機EL材料(OLED)のTOF-SIMSによるRGB素子深さ方向分析(C0243) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
照明
ディスプレイ
化学結合状態評価
組成分布評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価 2018/09/13 セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価(C0532) [XAFS]X線吸収微細構造
LSI・メモリ
照明
酸化物半導体
化学結合状態評価
X線吸収・発光分光によるバンド構造評価 2018/03/22 X線吸収・発光分光によるバンド構造評価(C0514) [XAFS]X線吸収微細構造
その他
LSI・メモリ
照明
酸化物半導体
その他
GaNの部分状態密度測定 2018/02/22 GaNの部分状態密度測定(C0511) [XAFS]X線吸収微細構造
[SXES]軟X線発光分光法
その他
LSI・メモリ
照明
酸化物半導体
その他
TDSによる有機膜の熱処理温度依存性評価 2017/12/21 TDSによる有機膜の熱処理温度依存性評価(C0499) [TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
その他
TDSによるレジスト膜の脱ガス評価 2017/12/21 TDSによるレジスト膜の脱ガス評価(C0498) [TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
その他
XRFによるウエハ上Au薄膜の面内膜厚評価 2017/08/24 XRFによるウエハ上Au薄膜の面内膜厚評価(C0480) [XRF]蛍光X線分析法
パワーデバイス
照明
製造装置・部品
組成評価・同定
組成分布評価
XRFによるウエハ上Au薄膜の付着量評価 2017/08/24 XRFによるウエハ上Au薄膜の付着量評価(C0479) [XRF]蛍光X線分析法
パワーデバイス
照明
製造装置・部品
組成評価・同定
組成分布評価
XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価 2017/06/29 XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価(C0472) [XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
照明
化学結合状態評価
構造評価
酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価 2017/03/16 酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価(C0462) [XPS]X線光電子分光法
[XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
太陽電池
照明
酸化物半導体
その他
エポキシ樹脂の構造解析 2016/11/17 エポキシ樹脂の構造解析(C0448) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
製品調査
MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)について 2016/03/10 MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)について(B0221) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析 2016/03/10 MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析(C0413) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの評価 2016/02/25 MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの評価(C0411) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
有機膜材料の配向角評価 2015/08/20 有機膜材料の配向角評価(B0215) [XAFS]X線吸収微細構造
電子部品
太陽電池
照明
ディスプレイ
日用品
化学結合状態評価
構造評価
GaN膜の組成・結合状態分析 2015/05/21 GaN膜の組成・結合状態分析(C0381) [XPS]X線光電子分光法
パワーデバイス
光デバイス
照明
ディスプレイ
酸化物半導体
組成評価・同定
化学結合状態評価

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