分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
撥水箇所の成分分析 2023/02/02 撥水箇所の成分分析(C0686) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
電子部品
照明
ディスプレイ
製造装置・部品
酸化物半導体
高分子材料
日用品
組成分布評価
不純物評価・分布評価
第一原理計算によるワイドギャップ半導体 窒化ガリウム(GaN)における欠陥準位の解析 2022/12/08 第一原理計算によるワイドギャップ半導体 窒化ガリウム(GaN)における欠陥準位の解析(C0680) [PL]フォトルミネッセンス法
計算科学・AI・データ解析
パワーデバイス
太陽電池
酸化物半導体
その他
剥離原因となる金属界面の有機物評価 2022/11/10 剥離原因となる金属界面の有機物評価(B0285) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
電子部品
製造装置・部品
酸化物半導体
故障解析・不良解析
不純物評価・分布評価
リートベルト解析(Rietveld analysis)とは 2022/01/20 リートベルト解析(Rietveld analysis)とは(B0277) [XRD]X線回折法
計算科学・AI・データ解析
パワーデバイス
二次電池
酸化物半導体
医薬品
化粧品
化学結合状態評価
構造評価
応力・歪み評価
分子動力学計算からわかること 2021/09/09 分子動力学計算からわかること(B0270) 計算科学・AI・データ解析
LSI・メモリ
二次電池
ディスプレイ
酸化物半導体
高分子材料
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
形状評価
構造評価
熱物性評価
応力・歪み評価
不純物評価・分布評価
デバイスの金属膜中および界面における金属不純物の評価 2020/12/10 デバイスの金属膜中および界面における金属不純物の評価(C0638) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
電子部品
製造装置・部品
酸化物半導体
故障解析・不良解析
製品調査
第一原理計算によるALD成膜におけるプリカーサ吸着シミュレーション 2020/11/19 第一原理計算によるALD成膜におけるプリカーサ吸着シミュレーション(C0639) 計算科学・AI・データ解析
LSI・メモリ
酸化物半導体
構造評価
その他
半導体中キャリアの直流電圧依存性評価 2020/10/01 半導体中キャリアの直流電圧依存性評価(C0628) [SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
照明
酸化物半導体
形状評価
製品調査
XPSによるSn表面の状態評価 2020/07/02 XPSによるSn表面の状態評価(C0603) [XPS]X線光電子分光法
電子部品
酸化物半導体
化学結合状態評価
その他
STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価 2020/05/06 STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価(C0558) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
計算科学・AI・データ解析
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
二次電池
酸化物半導体
構造評価
C-SAMによる貼り合わせウエハ内部の空隙調査 2020/05/06 C-SAMによる貼り合わせウエハ内部の空隙調査(C0536) [C-SAM]超音波顕微鏡法
LSI・メモリ
パワーデバイス
酸化物半導体
形状評価
故障解析・不良解析
製品調査
GC/MSによるウエハアナライザーを用いた有機汚染評価 2020/05/06 GC/MSによるウエハアナライザーを用いた有機汚染評価(B0230) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
製造装置・部品
酸化物半導体
組成評価・同定
微量濃度評価
故障解析・不良解析
高温XRDによる金属膜の評価 2020/05/06 高温XRDによる金属膜の評価(C0270) [XRD]X線回折法
LSI・メモリ
太陽電池
酸化物半導体
構造評価
TEMによる多元系金属微粒子の結晶構造観察 2020/05/06 TEMによる多元系金属微粒子の結晶構造観察(C0116) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
酸化物半導体
構造評価
ワイドギャップ半導体β-Ga2O3の ドーパント存在サイト同定・電子状態評価 2019/04/04 ワイドギャップ半導体β-Ga2O3の ドーパント存在サイト同定・電子状態評価(C0560) 計算科学・AI・データ解析
パワーデバイス
酸化物半導体
化学結合状態評価
構造評価
その他
STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した多結晶体の結晶構造解析 2019/03/14 STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した多結晶体の結晶構造解析(C0557) [EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
計算科学・AI・データ解析
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
二次電池
酸化物半導体
構造評価
Sn酸化物に対する還元処理の検証~XPSと計算シミュレーションの比較から~ 2019/02/07 Sn酸化物に対する還元処理の検証~XPSと計算シミュレーションの比較から~(C0544) [XPS]X線光電子分光法
その他
酸化物半導体
日用品
化学結合状態評価
その他
AFMデータ集 2018/10/25 AFMデータ集(B0247) [AFM]原子間力顕微鏡法
LSI・メモリ
酸化物半導体
医薬品
日用品
形状評価
セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価 2018/09/13 セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価(C0532) [XAFS]X線吸収微細構造
LSI・メモリ
照明
酸化物半導体
化学結合状態評価
クリーンルーム内有機化合物の評価方法 2018/08/23 クリーンルーム内有機化合物の評価方法(B0245) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
太陽電池
ディスプレイ
酸化物半導体
微量濃度評価
界面および深さ方向分解能について 2018/07/05 界面および深さ方向分解能について(B0243) [SIMS]二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
太陽電池
ディスプレイ
酸化物半導体
微量濃度評価
X線吸収・発光分光によるバンド構造評価 2018/03/22 X線吸収・発光分光によるバンド構造評価(C0514) [XAFS]X線吸収微細構造
その他
LSI・メモリ
照明
酸化物半導体
その他
GaNの部分状態密度測定 2018/02/22 GaNの部分状態密度測定(C0511) [XAFS]X線吸収微細構造
[SXES]軟X線発光分光法
その他
LSI・メモリ
照明
酸化物半導体
その他
代表的な材料・目的別のTDS解析例 2017/03/30 代表的な材料・目的別のTDS解析例(B0232) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
ディスプレイ
製造装置・部品
酸化物半導体
微量濃度評価
その他
酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価 2017/03/16 酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価(C0462) [XPS]X線光電子分光法
[XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
太陽電池
照明
酸化物半導体
その他
XAFSによるシリコン酸化膜評価 2016/10/06 XAFSによるシリコン酸化膜評価(C0439) [XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
二次電池
ディスプレイ
酸化物半導体
化学結合状態評価
構造評価
酸化ガリウムGa2O3膜表面近傍の金属元素濃度評価 2016/09/29 酸化ガリウムGa2O3膜表面近傍の金属元素濃度評価(C0440) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
パワーデバイス
酸化物半導体
微量濃度評価
2次元検出器を用いたX線回折測定 2015/08/13 2次元検出器を用いたX線回折測定(B0212) [XRD]X線回折法
LSI・メモリ
酸化物半導体
構造評価
ウエットエッチングによる有機付着物除去 2015/05/28 ウエットエッチングによる有機付着物除去(C0383) [XPS]X線光電子分光法
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
製造装置・部品
酸化物半導体
組成評価・同定
化学結合状態評価
GaN膜の組成・結合状態分析 2015/05/21 GaN膜の組成・結合状態分析(C0381) [XPS]X線光電子分光法
パワーデバイス
光デバイス
照明
ディスプレイ
酸化物半導体
組成評価・同定
化学結合状態評価

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