MST主催のプライベートセミナーを大阪にて開催いたします。皆様のご参加を心よりお待ちしております。
※本セミナーは満席のため、受付を終了させていただきました。
概要
おかげさまで本年もMST主催プライベートセミナーを大阪にて開催の運びとなりました。
研究開発・品質管理に携わる皆様に向け、分析技術の入門講座と最新の事例紹介をご用意しております。
更に今回は様々な分野で注目されるAIをキーワードに「AIが結ぶMSTの分析技術」についてご紹介致します。
分析現場で培った「MSTならではのご説明」で皆様方のお仕事に微力ながらお役に立てましたら幸いです。
スタッフ一同、皆様のご来場をお待ちしております。
開催日時
2017 年6 月9 日(金)
セミナー開始10:30(受付開始10:00 ~)閉場18:00
※開催時間の入退室はご自由に行えます。
お好きなタイトルのみ聴講いただけます。
開催場所
AP大阪駅前梅田1丁目 地下2F APホール
〒530-0001 大阪市北区梅田1丁目12番12号
東京建物梅田ビル地下2F(旧渡辺リクルートビル) APホール
http://www.ap-osakaekimae.com/info/access.html
参加特典
- 分析料金10%割引チケット
分析のご依頼時にぜひご利用ください。
※他の割引との併用は出来ません。
セミナープログラム
10:00 ~ 10:30 |
受付 開場 |
10:30 ~ 11:00 |
食品・化粧品・塗料の分析事例 (クライオSEM観察) |
11:00 ~ 11:20 |
加熱発生ガス分析の分析事例 (TDS・TG-DTA-MS・EGA-MS・GC/MS) |
11:20 ~ 11:40 |
ライフサイエンス分野の分析事例 (TOF-SIMS) |
11:40 ~ 12:00 |
有機系デバイスの最新分析事例 |
12:00 ~ 13:00 |
受付・質疑応答&お昼休み |
13:00 ~ 13:20 |
主催者ご挨拶 |
13:20 ~ 13:35 |
分析手法の選択 |
13:35 ~ 13:55 |
AIが結ぶMSTの最新分析技術 |
13:55 ~ 14:15 |
CMOSセンサの分析事例[TEMデータの数量化] |
14:15 ~ 14:35 |
磁気デバイスの分析事例 |
14:35 ~ 14:55 |
SiCを中心としたパワーデバイスの分析事例 |
14:55 ~ 15:20 |
質疑応答&ポスター展示・分析相談(Q&A)&休憩 |
15:20 ~ 15:40 |
一問一答 異物分析の事例紹介 (金属・有機物の汚染評価) |
15:40 ~ 16:00 |
一問一答 微小部解析技術の入門編・分析事例 (SEM・Slice&View) |
16:00 ~ 16:20 |
一問一答 微小部解析技術の入門編・分析事例 (TEM・STEM) |
16:20 ~ 16:40 |
一問一答 表面分析技術の入門編・分析事例 (SIMS・TOF-SIMS) |
16:40 ~ 17:00 |
一問一答 表面分析技術の入門編・分析事例 (XPS) |
17:00 ~ 18:00 |
全体質問&ポスター展示・分析相談(Q&A) |
参加申し込み