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【ご来場のお礼】第4回電子デバイスフォーラム京都 2017年11月1日(水)~2日(木)

2017/11/09

展示会

先日開催されました第4回電子デバイスフォーラム京都におきましては、ご多忙中にもかかわらず、私どものブースにご来場いただき、誠にありがとうございました。
お蔭様をもちまして盛況のうちに展示会を終了することが出来ました。重ねてお礼申し上げます。

皆様から賜りました貴重なご意見をもとに、職員一同、より一層の分析サービス向上に励む所存でございます。
今後とも、ご指導ご鞭撻のほど、何卒宜しくお願い申し上げます。

MSTブース展示内容

  • SiC中不純物の超高感度測定
  • イメージセンサーの拡散層評価
  • エッチング残渣の発生原因調査
  • TOF-SIMSを用いたセラミックスの分析
  • チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラム観察
  • 有機ELディスプレイの総合評価

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