MST主催のプライベートセミナーを大阪にて開催いたします。皆様のご参加を心よりお待ちしております。
※本セミナーは満席のため、受付を終了させていただきました。
概要
おかげさまで本年もMST主催プライベートセミナーを大阪にて開催の運びとなりました。
研究開発・品質管理に携わる皆様に向け、分析技術の入門講座と最新の事例紹介をご用意しております。
更に今回は「新製品コーナー」として、AIを活用した分析、非破壊検査、液中AFMをご紹介致します。
分析現場で培った「MSTならではのご説明」で皆様方のお仕事に微力ながらお役に立てましたら幸いです。
スタッフ一同、皆様のご来場をお待ちしております。
開催日時
2018年6月8日(金)
セミナー開始10:30(受付開始10:00 ~)閉場18:00
※開催時間の入退室はご自由に行えます。
お好きなタイトルのみ聴講いただけます。
開催場所
AP大阪駅前梅田1丁目 地下2F APホール
〒530-0001 大阪市北区梅田1丁目12番12号
東京建物梅田ビル地下2F(旧渡辺リクルートビル)
https://www.tc-forum.co.jp/kansai-area/ap-osakaekimae/oe-base/
参加特典
- 分析料金10%割引チケット
分析のご依頼時にぜひご利用ください。
※他の割引との併用は出来ません。
セミナープログラム
10:00~10:30 |
受付・開場 |
10:30~10:45 |
イントロダクション |
主催者ご挨拶 |
10:45~11:00 |
分析手法の選択 |
11:00~11:20 |
新製品コーナー |
AIを活用した分析事例紹介 |
11:20~11:40 |
非破壊検査の可能性を探る |
11:40~12:00 |
水溶液下での試料表面形状評価 (液中AFM) |
12:00~13:00 |
受付・質疑応答&お昼休み |
13:00~13:20 |
分析技術入門 |
一問一答 微小部解析技術の入門編・分析事例 (SEM・Slice&View) |
13:20~13:50 |
一問一答 微小部解析技術の入門編・分析事例 (TEM・STEM) |
13:50~14:10 |
一問一答 表面分析技術の入門編・分析事例 (SIMS・TOF-SIMS) |
14:10~14:40 |
一問一答 表面分析技術の入門編・分析事例 (XPS・XAFS) |
14:40~14:50 |
質疑応答&休憩 |
14:50~15:10 |
最新分析事例
(ライフサイエンス) |
身近な流体の凍結構造観察 (クライオSEM) |
15:10~15:30 |
GC/MS ・ LC/MS による定量分析事例紹介 |
15:30~15:50 |
経皮吸収・歯科インプラント・錠剤の複合分析 (TOF-SIMSを中心に) |
15:50~16:10 |
質疑応答&休憩 |
16:10~16:30 |
最新分析事例
(エレクトロニクス・
工業分野) |
故障箇所の特定から原因特定まで |
16:30~16:50 |
パワーデバイスおよび強誘電体材料の分析事例 (SNDM) |
16:50~17:10 |
電子顕微鏡を用いた磁性材料の分析事例 |
17:10~17:30 |
センサーシリーズⅡ 光デバイスの分析事例 |
17:30~18:00 |
全体質問&ポスター展示・分析相談(Q&A) |
参加申し込み