MRAMのトンネル磁気抵抗効果を示すFe/MgO/Fe接合系の理論計算
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PL・TEMによるSiCパワーデバイスの結晶欠陥評価
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TEM観察によるLIB(リチウムイオン)正極材料の解析
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Cu表面の結晶粒観察
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DRAMチップのTEM・SEMによる構造解析
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ARXPS(角度分解XPS)による極薄膜の組成分布評価
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SRAによるIGBTチップのキャリア濃度分布評価
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TEM・SEMによる有機EL(OLED)・ゲート酸化膜の断面観察
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有機EL材料(OLED)のTOF-SIMSによるRGB素子深さ方向分析
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ポリウレタンの黄変原因調査
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