TCC(急速温度変化)試験

装置外観

特徴

・試料温度制御と空気温度制御による温度サイクル試験が可能
・試料温度基準で最大15℃/minの温度勾配制御が可能
・JESD22-A104E、IEC60749-25の規格試験に対応
・試料温度ランプレート15℃/分以下(-40~125℃)の規格試験を、正確に行うことが可能

適用例

・自動車規格試験
・半導体パッケージや半導体デバイスの信頼性評価
・はんだ接合部の寿命評価

仕様

槽内寸   :W800mm×H500mm×D400mm
温度範囲  :-70℃~180℃  ※温度勾配を制御可能な範囲は別途お問い合わせ下さい
耐荷重   :試料カゴあたり5kg以下かつ、試料総重量25kg以下

料金

試験条件により変動します。別途ご相談ください。

速報納期

都度ご相談ください。

必要情報

  1. 目的/測定内容(試験温度、勾配条件など)
  2. 試料情報
    (1)数量・形状・サイズ・重量・材質
    (2)取り扱い注意事項
  3. 納期
    (1)ご希望の速報納期
    (2)注意事項
  4. その他の留意点

注意点

・本手法は、再委託によるサービスとなります。
・温度プロファイルはCSV形式でのデータ提出が可能です。
・試験途中での評価(外観撮影、測定など)をご希望の際はご相談ください。

TCC(急速温度変化)試験の分析事例はこちらからご覧ください。

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てむぞう&ますみん

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