受託分析サービス一覧

各分析手法における特徴・原理等の詳細情報を詳しくご紹介します。記載の無い手法につきましても、お気軽にお問い合わせください。

                          
手法名(和名) 測定法(略号)
電子顕微鏡観察・分析
走査電子顕微鏡法 SEM
エネルギー分散型X線分析法(SEM) SEM-EDX
電子プローブマイクロアナライザー EPMA
集束イオンビーム質量分析法 FIB-MS
三次元SEM観察法 Slice&View
電子線誘起電流 EBIC
電子ビーム吸収電流法 EBAC
電子後方散乱回折法 EBSD
(走査)透過電子顕微鏡法 (S)TEM
エネルギー分散型X線分光法(TEM) TEM-EDX
電子エネルギー損失分光法 TEM-EELS
電子回折法 ED
TEM電子回折マッピング法 TEM ED-Map
走査イオン顕微鏡法 SIM
質量分析法
二次イオン質量分析法 SIMS
飛行時間型二次イオン質量分析法 TOF-SIMS
マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法 MALDI-MS
ガスクロマトグラフィー質量分析法 GC/MS
液体クロマトグラフィー質量分析法 LC/MS
高速液体クロマトグラフ法 HPLC
イオンクロマトグラフ法 IC
誘導結合プラズマ質量分析法 ICP-MS
昇温脱離ガス分析法 TDS
グロー放電質量分析法 GDMS
SPM関連
広がり抵抗測定法 SRA
走査型静電容量顕微鏡法
走査型非線形誘電率顕微鏡法
SCM
SNDM
走査型マイクロ波顕微鏡法 SMM
走査型広がり抵抗顕微鏡法 SSRM
原子間力顕微鏡法 AFM
機械特性評価(弾性率測定・動的粘弾性率測定) AFM-MA・AFM-DMA
AFM赤外分光分析 AFM-IR
磁気力顕微鏡法 MFM
非破壊検査・故障解析
X線CT法
超音波顕微鏡法 C-SAM
エミッション顕微鏡法 EMS
光ビーム加熱抵抗変動法 OBIRCH
ロックイン発熱解析法   
電子分光法
オージェ電子分光法 AES
X線光電子分光法 XPS
硬X線光電子分光法 HAXPES
紫外光電子分光法 UPS
X線吸収微細構造 XAFS
軟X線発光分光法 SXES
X線回折関連
X線回折法 XRD
X線反射率法 XRR
X線小角散乱法 SAXS
振動分光
フーリエ変換赤外分光法 FT-IR
PTIR検出方式サブミクロン赤外分光分析法 O-PTIR
ラマン分光法 Raman
信頼性試験
パワーサイクル試験  
過渡熱抵抗測定  
逆バイアス試験  
絶縁破壊試験  
耐候性試験
恒温恒湿試験
TCC試験
熱衝撃試験
振動試験
衝撃試験
接合強度試験
はんだ耐熱性試験
はんだ濡れ性試験
気密性試験
PIND試験
ESD試験
 そのほかの測定法
マスアレイ法
核磁気共鳴分析 NMR
白色干渉計測法  
全有機体炭素測定 TOC
カールフィッシャー滴定法  
熱重量示差熱分析
示差熱天秤‐質量分析法

TG-DTA
TG-DTA-MS
示差走査熱量測定 DSC
フォトルミネッセンス法 PL
蛍光光度法
絶対PL量子収率測定  
蛍光寿命測定  
紫外可視分光法 UV-Vis
蛍光X線分析法 XRF
ラザフォード後方散乱分析法 RBS
計算科学・AI・データ解析 AI
ナノシミュレーション  
酵素結合免疫吸着測定法
ELISA
加工法・処理法
集束イオンビーム加工 FIB
Arイオンミリング加工  
ウルトラミクロトーム加工  
Arイオン研磨加工 IP法
クライオ加工  
基板側からの測定用加工 SSDP用加工
雰囲気制御下での処理  
レーザー加工  
電子染色  

分析手法ウィザード

分析目的に合った分析手法をご提案します。

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分析解説動画

分析手法の原理紹介や分析事例の解説を動画で紹介。分析知識の理解にお役立てください。タブレット・スマートフォンからも閲覧いただけます。

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