ホーム > 分析対象・サービス > エレクトロニクス分野 > 照明

照明

照明器具は白熱灯・蛍光灯からLEDや有機EL照明などへの切り替えが進んでいます。
次世代照明は低消費電力・低コストを実現するため、多種多用な材料が用いられております。
照明用部材の分析例を以下に示します。

評価対象 評価項目 部位 分析手法
LED活性層 ドーパント分布評価 実製品 SIMS
活性層形状評価 実製品 SCM・SMM・SSRM
構造・膜厚・結晶欠陥評価 実製品 TEM
非発光箇所の特定 実製品 EMS・OBIRCH
LED用基板 ウエハ表面汚染評価 バルク・薄膜 XPS・TOF‐SIMS・ICP‐MS
結晶性評価 バルク・薄膜 XRD
結晶欠陥評価 バルク・薄膜 PL・TEM
応力評価 バルク・薄膜 Raman・XRD
実製品 TEM・ED
不純物分布評価 バルク・薄膜 SIMS
蛍光体 形状・分布評価 実製品 SEM・SEM‐EDX
成分分析 実製品 AES・TOF‐SIMS・SEM‐EDX・XRF
発光解析 実製品 Raman・PL
有機EL 積層構造評価 実製品 SEM・TEM
非発光箇所の特定 実製品 EMS・OBIRCH
バッファ層成分の拡散評価 実製品 SIMS・TOF‐SIMS
発光層・輸送層の膜厚評価 実製品 TEM
発光層・輸送層の成分評価 実製品 SIMS・TOF‐SIMS・LC/MS/MS・XPS

照明の分析事例はこちらからご覧ください。

分析のご相談・お申し込み

知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。
分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。
相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。

webからのお問い合わせはこちら

分析お問い合わせフォーム

お電話からのお問い合わせはこちら

ページトップへ

(C) 2015 Foundation for Promotion of Material Science and Technology of Japan.