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TOF-SIMS新サービス 2016年10月より提供開始のお知らせ

お客様各位

一般財団法人材料科学技術振興財団
2016年9月26日

平素は一般財団法人材料科学技術振興財団をご愛顧いただきまして、誠にありがとうございます。

2016年10月、MSTは最新型の高分解能TOF-SIMSを導入し分析サービスを開始します。医薬品・バイオテクノロジ・医療機器や、エレクトロニクス関連の製品開発・品質管理など幅広い分野を対象に分析サービスを提供します。
これまでも実績のあるTOF-SIMS分析の技術を基盤に、さらに高品質なデータでお客様の研究開発をサポートします。

TOF-SIMSとは?

「Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry」(飛行時間型二次イオン質量分析法)の略称です。
試料表面にパルス一次イオンを照射すると二次イオンが生成します。その二次イオンを質量の重さを利用した飛行時間型の質量分析計を用いて計測することで、試料表面の分子情報の可視化したイオン像が得られます。

[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法

ご利用例

  • 皮膚や毛髪へ浸透させた薬効成分の経皮吸収評価
  • 変色部(曇り、シミなど)、剥離部の成分評価・原因調査
  • 残渣、付着物、異物(数μm以上)の有機・無機定性分析
  • 処理前後の最表面評価
  • 有機EL・有機太陽電池・高分子フィルムの材料及び添加剤の分布評価
  • 金属薄膜の層構造評価・不純物の定性評価
  • 粉体表面からの不純物・コーティング剤の分布評価
  • 二次電池のバインダーの定性・Liの状態・劣化評価

TOF-SIMSの特徴

  • 有機・無機化合物の構造解析・同定が同時解析可能
  • イメージ分析が可能(生体・ゲル材料も可)
  • ミクロンオーダーの微小異物から数cmまでの定性が可能
  • 最表面を感度よく分析することが可能
  • 有機物の深さ方向分析の定性・分布の評価が可能
  • 空間分解能・感度・凹凸補正の向上

MST独自の特徴

  • 雰囲気制御化で「試料の開封→切削などの加工→測定」を行うことで、大気中の酸素や水分による劣化を最小限に抑えた状態評価が可能
  • クリーンルーム内で「ウエハを開封→測定」を行うことで、300mmまで非破壊で大気中の二次汚染を最小限に抑えた状態評価が可能
  • 高感度化や有機物の官能基別にラベルをつける等のデータ処理が可能
  • 無機物表面の薄い腐食層の評価が可能

サービス概要

納期

試料受領後より、通常3~7日にて測定データをご報告。(即日速報も可能。ご相談ください。)
※加工が伴う場合は加工終了後5~7日

価格(税別)

分析条件や、測定前の加工の有無により異なります。詳しくはお問い合わせください。

分析事例のご紹介

マウスの脳断面の脂質成分の可視化

広領域における生体材料の測定が可能なため、マウスの脳断面全域(約15mm×5mm)について、脂質(脂肪酸、硫糖脂質、コレステロール)の分布を可視化しました。
生体の各器官に合わせた前処理・測定が可能なため、様々な臓器中の成分を可視化でき、薬物動態などへの活用が可能です。

プレート中ノズル穴の表面・内壁の同時評価

表面と内壁がGaでコーティングされたノズル穴について、穴の表面や内側の側面を同時にイメージ測定しました。特殊測定により、このような凹凸に強い分析が可能です。

その他の分析事例はこちら

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mst-news@mst.or.jpまで、「TOF-SIMS新サービス資料希望」とお申し込みください。
ご興味のある製品分野(医薬品分野、エレクトロニクス分野、等)がございましたら、併せてご記載ください。

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