分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
X線CTを用いたin situ測定の受託分析サービス 2020/09/03 X線CTを用いたin situ測定の受託分析サービス(B0258)
クリームはんだ中フラックスの成分分析 2020/09/03 クリームはんだ中フラックスの成分分析(C0616) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
電子部品
組成評価・同定
製品調査
リチウムイオン二次電池正極材の立体構造観察・解析 2020/08/27 リチウムイオン二次電池正極材の立体構造観察・解析(C0617) X線CT法
二次電池
形状評価
構造評価
製品調査
髪表面の成分18-MEAの評価 2020/08/20 髪表面の成分18-MEAの評価(C0375) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
化粧品
組成評価・同定
組成分布評価
皮膚断面の成分分布評価 2020/08/20 皮膚断面の成分分布評価(C0355) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
組成分布評価
リチウムイオン二次電池負極の充放電サイクル試験後の劣化評価 2020/08/20 リチウムイオン二次電池負極の充放電サイクル試験後の劣化評価(C0194) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
二次電池
組成評価・同定
錠剤における薬効成分の分布評価 2020/08/20 錠剤における薬効成分の分布評価(C0190) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
医薬品
組成評価・同定
組成分布評価
3Dプリンター造形物の三次元構造解析 2020/08/06 3Dプリンター造形物の三次元構造解析(C0615) X線CT法
製造装置・部品
日用品
形状評価
製品調査
二次電池正極活物質の局所領域評価 2020/07/30 二次電池正極活物質の局所領域評価(C0614) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
二次電池
化学結合状態評価
組成分布評価
構造評価
製品調査
X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析 2020/07/30 X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析(C0613) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[SAXS]X線小角散乱法
二次電池
燃料電池
化粧品
その他
形状評価
SEMI規格に準拠した ステンレス表面不動態膜の評価 2020/07/23 SEMI規格に準拠した ステンレス表面不動態膜の評価(C0612) [AES]オージェ電子分光法
[XPS]X線光電子分光法
その他
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
膜厚評価
顔料のダイレクトMS法による同定分析 2020/07/23 顔料のダイレクトMS法による同定分析(C0611) その他
日用品
組成評価・同定
製品調査
Xe-PFIBを用いた広域断面のSEM観察 2020/07/16 Xe-PFIBを用いた広域断面のSEM観察(C0610) [SEM]走査電子顕微鏡法
X線CT法
[FIB]集束イオンビーム加工
LSI・メモリ
形状評価
構造評価
製品調査
3Dプリンター用樹脂のアウトガス分析 2020/07/16 3Dプリンター用樹脂のアウトガス分析(C0609) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
製造装置・部品
組成評価・同定
微量濃度評価
Xe-プラズマFIBによる構造解析 2020/07/16 Xe-プラズマFIBによる構造解析(B0255) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Slice&View]三次元SEM観察法
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
X線CT法
[FIB]集束イオンビーム加工
その他
LSI・メモリ
形状評価
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
二次電池正極活物質の総合評価 2020/07/09 二次電池正極活物質の総合評価(C0607) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[XRD]X線回折法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
二次電池正極の抵抗値およびLiの分布評価 2020/07/09 二次電池正極の抵抗値およびLiの分布評価(C0606) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
[IP法]Arイオン研磨加工
二次電池
組成分布評価
形状評価
製品調査
二次電池正極活物質の構造評価 2020/07/09 二次電池正極活物質の構造評価(C0605) [SEM]走査電子顕微鏡法
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
二次電池
形状評価
構造評価
製品調査
二次電池セパレータの構造評価 2020/07/09 二次電池セパレータの構造評価(C0604) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
XPSによるSn表面の状態評価 2020/07/02 XPSによるSn表面の状態評価(C0603) [XPS]X線光電子分光法
電子部品
酸化物半導体
化学結合状態評価
その他
切断加工を併用した金属配管内壁のXPS分析 2020/07/02 切断加工を併用した金属配管内壁のXPS分析(C0602) [XPS]X線光電子分光法
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
故障解析・不良解析
劣化調査・信頼性評価
斜め加工を用いたMLCCの不純物評価 MLCC:multi-layer ceramic capacitor 2020/06/25 斜め加工を用いたMLCCの不純物評価 MLCC:multi-layer ceramic capacitor (C0608) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[IP法]Arイオン研磨加工
電子部品
不純物評価・分布評価
量子化学計算から分かること 2020/06/25 量子化学計算から分かること(B0257) 計算科学・データ解析
照明
ディスプレイ
医薬品
化粧品
日用品
食品
環境
化学結合状態評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
第一原理計算から分かること 2020/06/25 第一原理計算から分かること(B0256) 計算科学・データ解析
LSI・メモリ
パワーデバイス
組成評価・同定
化学結合状態評価
構造評価
液晶ディスプレイの劣化分析 2020/06/25 液晶ディスプレイの劣化分析(C0601) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[IC]イオンクロマトグラフ法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[AFM]原子間力顕微鏡法
[SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法
計算科学・データ解析
ディスプレイ
微量濃度評価
化学結合状態評価
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
XPSによる広域定量マッピング 2020/06/25 XPSによる広域定量マッピング(C0600) [XPS]X線光電子分光法
電子部品
製造装置・部品
日用品
組成分布評価
消毒用アルコールの成分分析 2020/06/18 消毒用アルコールの成分分析(C0599) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
日用品
ウイルス対策関連品
アルコール
製品調査
安全性試験
消毒前後における不織布マスクの表面形状観察 2020/06/18 消毒前後における不織布マスクの表面形状観察(C0598) [SEM]走査電子顕微鏡法
日用品
ウイルス対策関連品
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
抗菌コート表面の抗菌剤のイメージング分析 2020/06/18 抗菌コート表面の抗菌剤のイメージング分析(C0597) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
日用品
ウイルス対策関連品
微量濃度評価
組成分布評価
製品調査
不織布マスクの構造解析 2020/06/18 不織布マスクの構造解析(C0596) X線CT法
日用品
ウイルス対策関連品
構造評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査

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