分析事例

フリーワード

分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
α-アルミナ(α-Al2O3)のTDS分析 2019/10/10 α-アルミナ(α-Al2O3)のTDS分析(C0578) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
製造装置・部品
微量濃度評価
その他
リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化 2019/10/03 リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化(C0577) [XRD]X線回折法
計算科学・データ解析
二次電池
ディスプレイ
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
構造評価
低分子シロキサンの定量分析 2019/10/03 低分子シロキサンの定量分析(C0576) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
組成評価・同定
微量濃度評価
食品中の有機体・無機体炭素量測定 2019/09/05 食品中の有機体・無機体炭素量測定(C0575) [TOC]全有機体炭素測定
食品
微量濃度評価
製品調査
化粧品塗膜の3D観察 2019/08/29 化粧品塗膜の3D観察(C0574) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Slice&View]三次元SEM観察法
X線CT法
クライオ加工
化粧品
日用品
構造評価
製品調査
化粧品の非破壊分析 2019/08/29 化粧品の非破壊分析(C0573) X線CT法
化粧品
日用品
構造評価
製品調査
電子デバイス内特異箇所の複合解析 2019/08/29 電子デバイス内特異箇所の複合解析(C0572) [SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
X線CT法
[FIB]集束イオンビーム加工
電子部品
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(3) 2019/07/25 FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(3)(C0571) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
電子部品
日用品
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(2) 2019/07/25 FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(2)(C0570) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
電子部品
日用品
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
TDSによる銅板・はんだの同時加熱分析 2019/07/04 TDSによる銅板・はんだの同時加熱分析(C0569) [TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
製造装置・部品
故障解析・不良解析
その他
エポキシ樹脂のTDS分析 2019/06/27 エポキシ樹脂のTDS分析(C0568) [TDS]昇温脱離ガス分析法
製造装置・部品
微量濃度評価
その他
発泡ゴムの引っ張り試験CT測定 2019/06/27 発泡ゴムの引っ張り試験CT測定(C0567) X線CT法
製造装置・部品
化粧品
日用品
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
真空中での有機成分の脱離評価 2019/05/30 真空中での有機成分の脱離評価(C0566) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
二次電池
ディスプレイ
微量濃度評価
その他
リチウムイオン二次電池内部の非破壊観察 2019/05/30 リチウムイオン二次電池内部の非破壊観察(C0565) X線CT法
二次電池
形状評価
構造評価
製品調査
FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(1) 2019/05/02 FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(1)(C0561) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
電子部品
日用品
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
トランジスタ内部の状態評価 2019/04/25 トランジスタ内部の状態評価(C0563) X線CT法
電子部品
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
製剤中農薬原体のイメージング分析 2019/04/25 製剤中農薬原体のイメージング分析(C0540) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
医薬品
環境
組成評価・同定
組成分布評価
パンケーキ内部の空隙評価 2019/04/25 パンケーキ内部の空隙評価(C0564) X線CT法
食品
構造評価
製品調査
シームレスカプセルの構造評価 2019/04/25 シームレスカプセルの構造評価(C0562) X線CT法
医薬品
膜厚評価
構造評価
製品調査
走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察 2019/04/11 走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察(C0545) [SIM]走査イオン顕微鏡法
LSI・メモリ
構造評価
SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較 2019/04/11 SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較(C0543) [SEM]走査電子顕微鏡法
[SIM]走査イオン顕微鏡法
LSI・メモリ
構造評価
DRAMチップの解析 2019/04/04 DRAMチップの解析(C0542) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
LSI・メモリ
形状評価
構造評価
製品調査
ワイドギャップ半導体β-Ga2O3のドーパント存在サイト同定・電子状態評価 2019/04/04 ワイドギャップ半導体β-Ga2O3のドーパント存在サイト同定・電子状態評価(C0560) 計算科学・データ解析
パワーデバイス
酸化物半導体
化学結合状態評価
構造評価
その他
分子動力学計算を用いたアモルファスSiNx膜の構造解析 2019/03/28 分子動力学計算を用いたアモルファスSiNx膜の構造解析(C0559) 計算科学・データ解析
LSI・メモリ
構造評価
SiC Trench MOSFETのSNDMおよびSMMによる拡散層評価 2019/03/21 SiC Trench MOSFETのSNDMおよびSMMによる拡散層評価(C0556) [SIMS]二次イオン質量分析法
[SCM]走査型静電容量顕微鏡法・[SNDM]走査型非線形誘電率顕微鏡法
[SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法
パワーデバイス
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価 2019/03/14 STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価(C0558) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
計算科学・データ解析
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
二次電池
酸化物半導体
構造評価
STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した多結晶体の結晶構造解析 2019/03/14 STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した多結晶体の結晶構造解析(C0557) [EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
計算科学・データ解析
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
二次電池
酸化物半導体
構造評価
TOF-SIMSによる毛髪の評価 2019/03/07 TOF-SIMSによる毛髪の評価(C0507) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
医薬品
化粧品
組成評価・同定
組成分布評価
膜厚評価
SiC Trench MOSFETのトレンチ側壁の粗さ評価 2019/02/28 SiC Trench MOSFETのトレンチ側壁の粗さ評価(C0555) [SEM]走査電子顕微鏡法
[AFM]原子間力顕微鏡法
パワーデバイス
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
SiC Trench MOSFETディスクリートパッケージの非破壊3D構造観察 2019/02/28 SiC Trench MOSFETディスクリートパッケージの非破壊3D構造観察(C0554) X線CT法
パワーデバイス
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査

分析のご相談・お申し込み

知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。
分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。
相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。

webからのお問い合わせはこちら

お問い合わせフォーム

お電話からのお問い合わせはこちら

ページトップへ

てむぞう&ますみん

てむぞう&ますみん