特許・訴訟

鑑定書

中立性の保たれた第三者機関として、客観的な検査・分析を行います。
各種分析結果を複合的・総合的に解析し、その解析結果に基づき、サンプル・製品およびその製造プロセスに関わる情報を明らかにします。
　また、試料受領・開封から各種分析にわたる一連の工程のトレーサビリティを確立し、分析結果の信頼性を保証します。

訴訟支援サービス

知的財産権の保護など、各種訴訟への対処において中立機関の調査結果が必要な場合は、MSTの訴訟支援サービスをご利用ください。 フラッシュメモリやパワー半導体などの各種材料およびデバイス、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ、バッテリーに関わる鑑定書を提供いたします。

パワーデバイス　

X線CTを用いて、パッケージング内部の構造を非破壊で観察することが出来ます。
SEM,TEM を用いたデバイス構造の確認や元素分析を行うことで、構成材料を特定することも可能です。

バッテリー

各部材の詳細構造をSEMで観察することで、表面処理法などの推定が可能になります。
また、特徴的な構成成分をXPS、AES、TOF-SIMS等で検出することで、原材料やその 混合比率に関する知見を得ることができます。

有機ELディスプレイ

光学顕微鏡やSEMを用いた画素の配列、形状の評価やクロマトグラフィ、TOF-SIMSによる 発光層、ホール輸送層の成分推定が可能です。 成分特定にはシミュレーションを組み合わせ、より信頼性の高い結果を提供します。

メモリ

TEMを用いた微細構造の形状観察、また、電子線回折の結果から 成膜、エッチング、アニール等種々の製造プロセスの推定を行うことができます。
また、TEM-EDXを併用することで各構造体の構成材料を特定します。

訴訟に必要な分析、また、訴状に添付する報告書の作成はぜひMSTにご相談ください。