分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
パッケージ品のロックイン発熱解析 2013/10/10 パッケージ品のロックイン発熱解析(C0310) ロックイン発熱解析法
パワーデバイス
故障解析・不良解析
GaN系デバイスの発光・発熱解析 2013/09/12 GaN系デバイスの発光・発熱解析(C0309) [EMS]エミッション顕微鏡法
ロックイン発熱解析法
光デバイス
故障解析・不良解析
製品調査
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てむぞう&ますみん

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