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イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
薄膜表面処理後の仕事関数評価 2015/05/28 薄膜表面処理後の仕事関数評価(C0382) ［UPS］紫外光電子分光法
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半導体のイオン化ポテンシャル評価 2014/02/06 半導体のイオン化ポテンシャル評価(B0191) ［UPS］紫外光電子分光法
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IGZO膜の化学状態評価 2013/12/26 IGZO膜の化学状態評価(C0331) ［XPS］X線光電子分光法
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