ホーム > 分析事例

分析事例

測定法・加工法

製品分野

分析目的

フリーワード

上記の内容で検索 検索条件をクリア

分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
Cu表面の結晶粒観察 2020/04/30 Cu表面の結晶粒観察(C0545) ［SIM］走査イオン顕微鏡法
 LSI・メモリ
 構造評価
SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較 2019/04/11 SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較(C0543) ［SEM］走査電子顕微鏡法
［SIM］走査イオン顕微鏡法
 LSI・メモリ
 構造評価
  • 1

分析のご相談・お申し込み

知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。
分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。
相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。

webからのお問い合わせはこちら

分析お問い合わせフォーム

お電話からのお問い合わせはこちら

ページトップへ

(C) 2015 Foundation for Promotion of Material Science and Technology of Japan.