分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察 2019/04/11 走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察(C0545) [SIM]走査イオン顕微鏡法
LSI・メモリ
構造評価
SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較 2019/04/11 SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較(C0543) [SEM]走査電子顕微鏡法
[SIM]走査イオン顕微鏡法
LSI・メモリ
構造評価
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