分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
二次電池正極活物質の総合評価 2020/07/09 二次電池正極活物質の総合評価(C0607) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[XRD]X線回折法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
二次電池正極の抵抗値およびLiの分布評価 2020/07/09 二次電池正極の抵抗値およびLiの分布評価(C0606) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
[IP法]Arイオン研磨加工
二次電池
組成分布評価
形状評価
製品調査
LIB(リチウムイオン)正極材料の抵抗分布評価 2020/04/30 LIB(リチウムイオン)正極材料の抵抗分布評価(C0315) [SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
二次電池
組成分布評価
形状評価
劣化調査・信頼性評価
リチウムイオン二次電池の電極材料の評価 2011/10/27 リチウムイオン二次電池の電極材料の評価(C0219) [AFM]原子間力顕微鏡法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
二次電池
形状評価
劣化調査・信頼性評価
その他
CIGS薄膜太陽電池の結晶粒と抵抗評価 2010/04/01 CIGS薄膜太陽電池の結晶粒と抵抗評価(C0174) [EBSD]電子後方散乱回折法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
太陽電池
形状評価
構造評価
CIGS太陽電池へテロ接合界面の抵抗評価 2010/01/01 CIGS太陽電池へテロ接合界面の抵抗評価(C0161) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
太陽電池
形状評価
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