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イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価 2018/09/13 セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価(C0532) ［XAFS］X線吸収微細構造
 LSI・メモリ
照明
酸化物半導体
 化学結合状態評価
X線吸収・発光分光によるバンド構造評価 2018/03/22 X線吸収・発光分光によるバンド構造評価(C0514) ［XAFS］X線吸収微細構造
その他
 LSI・メモリ
照明
酸化物半導体
 その他
GaNの部分状態密度測定 2018/02/22 GaNの部分状態密度測定(C0511) ［XAFS］X線吸収微細構造
[SXES]軟X線発光分光法
その他
 LSI・メモリ
照明
酸化物半導体
 その他
酸化アルミニウム薄膜の局所構造解析 2017/08/10 酸化アルミニウム薄膜の局所構造解析(C0478) ［XAFS］X線吸収微細構造
 LSI・メモリ
製造装置・部品
 化学結合状態評価
構造評価
XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価 2017/06/29 XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価(C0472) ［XAFS］X線吸収微細構造
 パワーデバイス
照明
 化学結合状態評価
構造評価
酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価 2017/03/16 酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価(C0462) ［XPS］X線光電子分光法
［XAFS］X線吸収微細構造
 パワーデバイス
太陽電池
照明
酸化物半導体
 その他
in-situ XAFSによるRuO₂触媒の化学状態評価 2017/01/19 in-situ XAFSによるRuO₂触媒の化学状態評価(C0456) ［XAFS］X線吸収微細構造
 燃料電池
その他
 化学結合状態評価
燃料電池用PtRu触媒の雰囲気・温度制御下での金属価数評価（in-situ XAFS） 2017/01/19 燃料電池用PtRu触媒の雰囲気・温度制御下での金属価数評価（in-situ XAFS）(C0455) ［XAFS］X線吸収微細構造
 燃料電池
その他
 化学結合状態評価
HfZrOx膜の結晶構造同定・含有割合の算出 2016/11/10 HfZrOx膜の結晶構造同定・含有割合の算出(C0447) ［XAFS］X線吸収微細構造
［XRD］X線回折法
 LSI・メモリ
 構造評価
XAFSによるシリコン酸化膜評価 2016/10/06 XAFSによるシリコン酸化膜評価(C0439) ［XAFS］X線吸収微細構造
 パワーデバイス
電子部品
太陽電池
二次電池
ディスプレイ
酸化物半導体
 化学結合状態評価
構造評価
有機膜材料の配向角評価 2015/08/20 有機膜材料の配向角評価(B0215) ［XAFS］X線吸収微細構造
 電子部品
太陽電池
照明
ディスプレイ
日用品
 化学結合状態評価
構造評価
DLC膜のsp2/(sp2+sp3)比高精度定量化 2015/04/23 DLC膜のsp2/(sp2+sp3)比高精度定量化(C0379) ［XAFS］X線吸収微細構造
 電子部品
製造装置・部品
日用品
 化学結合状態評価
構造評価
リチウムイオン二次電池正極材料の電子構造及び局所構造解析 2014/01/30 リチウムイオン二次電池正極材料の電子構造及び局所構造解析(C0323) ［XAFS］X線吸収微細構造
 二次電池
 化学結合状態評価
構造評価
IGZO薄膜のXAFSによる局所構造解析 2013/12/26 IGZO薄膜のXAFSによる局所構造解析(C0324) ［XAFS］X線吸収微細構造
 酸化物半導体
 化学結合状態評価
構造評価
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