有機膜材料の配向角評価(B0215)

XAFS:X線吸収微細構造

MST技術資料No.B0215
掲載日2015/08/20
測定法・加工法[XAFS]X線吸収微細構造
製品分野電子部品
太陽電池
照明
ディスプレイ
日用品
分析目的化学結合状態評価
構造評価

概要

配向性有機膜である自己組織化単分子膜(SAM膜)は表面の濡れ性や吸着性といった膜の機能・物性が配向性・配向角によって変化します。
放射光を用いたXAFSでは、ピーク強度のX線入射角依存性を解析することで有機膜材料の配向性・配向角の評価を行うことが可能です。

原理

配向性を持つ試料では、X線の入射角に依存してXANESスペクトルのピーク強度・スペクトル形状が変化します。この強度変化を解析することで、配向角の算出が可能です。

配向性の評価は自己組織化単分子膜(SAM膜)のような非常に薄く、また被覆率が低い有機膜に対して有効です。
例えばAu等の金属基板上に配向したアルカンチオール単分子膜等の配向角を算出することができます。
また、ピークの帰属を行うことで化学状態に関する知見を得ることも可能です。

関連する分析事例

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価 2018/09/13 セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価(C0532) [XAFS]X線吸収微細構造
LSI・メモリ
照明
酸化物半導体
化学結合状態評価
X線吸収・発光分光によるバンド構造評価 2018/03/22 X線吸収・発光分光によるバンド構造評価(C0514) [XAFS]X線吸収微細構造
その他
LSI・メモリ
照明
酸化物半導体
その他
軟X線発光分光によるGaNの評価 2018/02/22 軟X線発光分光によるGaNの評価(C0511) [XAFS]X線吸収微細構造
その他
LSI・メモリ
照明
酸化物半導体
その他
酸化アルミニウム薄膜の局所構造解析 2017/08/10 酸化アルミニウム薄膜の局所構造解析(C0478) [XAFS]X線吸収微細構造
LSI・メモリ
製造装置・部品
化学結合状態評価
構造評価
XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価 2017/06/29 XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価(C0472) [XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
照明
化学結合状態評価
構造評価
酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価 2017/03/16 酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価(C0462) [XPS]X線光電子分光法
[XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
太陽電池
照明
酸化物半導体
その他
試料環境制御in-situ XAFSによるRuO2触媒の化学状態評価 2017/01/19 試料環境制御in-situ XAFSによるRuO2触媒の化学状態評価(C0456) [XAFS]X線吸収微細構造
燃料電池
その他
化学結合状態評価
燃料電池用PtRu触媒の雰囲気・温度制御下での金属価数評価(in-situ XAFS) 2017/01/19 燃料電池用PtRu触媒の雰囲気・温度制御下での金属価数評価(in-situ XAFS)(C0455) [XAFS]X線吸収微細構造
燃料電池
その他
化学結合状態評価
HfZrOx膜の結晶構造同定・含有割合の算出 2016/11/10 HfZrOx膜の結晶構造同定・含有割合の算出(C0447) [XAFS]X線吸収微細構造
[XRD]X線回折法
LSI・メモリ
構造評価
XAFSによるシリコン酸化膜評価 2016/10/06 XAFSによるシリコン酸化膜評価(C0439) [XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
二次電池
ディスプレイ
酸化物半導体
化学結合状態評価
構造評価

分析のご相談・お申し込み

知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。
分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。
相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。

webからのお問い合わせはこちら

お問い合わせフォーム

お電話からのお問い合わせはこちら

ページトップへ

てむぞう&ますみん

てむぞう&ますみん