ホーム > 分析事例

分析事例

測定法・加工法

製品分野

分析目的

フリーワード

上記の内容で検索 検索条件をクリア

分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
SiCパワートランジスタリーク箇所の成分分析 2024/05/23 SiCパワートランジスタリーク箇所の成分分析(C0711) ［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）
［Slice&View］三次元SEM観察法
［EMS］エミッション顕微鏡法
［FIB］集束イオンビーム加工
 パワーデバイス
 故障解析・不良解析
製品調査
SiCパワートランジスタリーク箇所の Slice&view（3D-SEM）による故障解析 2024/05/23 SiCパワートランジスタリーク箇所の Slice&view（3D-SEM）による故障解析(C0710) ［Slice&View］三次元SEM観察法
［EMS］エミッション顕微鏡法
 パワーデバイス
 故障解析・不良解析
製品調査
Xe-プラズマFIBによる構造解析 2020/07/16 Xe-プラズマFIBによる構造解析(B0255) ［SEM］走査電子顕微鏡法
［Slice&View］三次元SEM観察法
［EBSD］電子後方散乱回折法
［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法
X線CT法
［FIB］集束イオンビーム加工
その他
 LSI・メモリ
 形状評価
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察 2020/05/06 X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察(C0574) ［SEM］走査電子顕微鏡法
［Slice&View］三次元SEM観察法
X線CT法
クライオ加工
 化粧品
日用品
 構造評価
製品調査
三次元SEMによる活物質体積の数値評価 2013/07/25 三次元SEMによる活物質体積の数値評価(C0316) ［SEM］走査電子顕微鏡法
［Slice&View］三次元SEM観察法
［FIB］集束イオンビーム加工
クライオ加工
 二次電池
 形状評価
リチウムイオン二次電池電極の三次元的観察 2010/01/05 リチウムイオン二次電池電極の三次元的観察(C0167) ［SEM］走査電子顕微鏡法
［Slice&View］三次元SEM観察法
［FIB］集束イオンビーム加工
 二次電池
 形状評価
故障解析・不良解析
  • 1

分析のご相談・お申し込み

知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。
分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。
相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。

webからのお問い合わせはこちら

分析お問い合わせフォーム

お電話からのお問い合わせはこちら

ページトップへ

(C) 2015 Foundation for Promotion of Material Science and Technology of Japan.