Xe-プラズマFIBによる構造解析(B0255)

Xe-プラズマFIB(Xe-Plasma Focused Ion Beam)

MST技術資料No.B0255
掲載日2020/07/16
測定法・加工法[SEM]走査電子顕微鏡法
[Slice&View]三次元SEM観察法
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
X線CT法
[FIB]集束イオンビーム加工
その他
製品分野LSI・メモリ
分析目的形状評価
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査

数百μmの広い領域を対象に精密加工/構造評価が可能

Xe-プラズマFIBによる構造解析

解析事例:DRAMパッケージ内ボンディングの広域断面解析

Xe-プラズマFIBによる構造解析 Xe-プラズマFIBによる構造解析

関連する分析事例

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
in situ X線CTを用いた引張試験による金属材の構造変化観察 2021/04/29 in situ X線CTを用いた引張試験による金属材の構造変化観察(C0649) その他
製造装置・部品
日用品
その他
形状評価
構造評価
応力・歪み評価
故障解析・不良解析
劣化調査・信頼性評価
製品調査
三次元培養ヒト皮膚を用いた皮膚透過性評価 2021/03/25 三次元培養ヒト皮膚を用いた皮膚透過性評価(C0647) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[HPLC]高速液体クロマトグラフ法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
クライオ加工
その他
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
食品
微量濃度評価
組成分布評価
構造評価
製品調査
安全性試験
固体試料表面の質量分析法の使い分け 2021/03/11 固体試料表面の質量分析法の使い分け(B0266) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
その他
照明
ディスプレイ
製造装置・部品
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
食品
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価 2021/02/11 二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価(C0645) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
雰囲気制御下での処理
二次電池
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
膜厚評価
構造評価
製品調査
毛髪断面の微細構造(S)TEM分析 2021/01/14 毛髪断面の微細構造(S)TEM分析(C0643) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
ウルトラミクロトーム加工
その他
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
組成評価・同定
組成分布評価
形状評価
膜厚評価
ネガティブ染色による(S)TEM観察事例 2021/01/14 ネガティブ染色による(S)TEM観察事例(C0642) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
その他
医薬品
化粧品
日用品
食品
形状評価
製品調査
電子染色を用いた高分子材料の(S)TEM観察 2020/11/26 電子染色を用いた高分子材料の(S)TEM観察(C0640) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
その他
日用品
その他
形状評価
その他
リチウムイオン二次電池負極材の構造評価 2020/09/24 リチウムイオン二次電池負極材の構造評価(C0627) X線CT法
二次電池
形状評価
構造評価
製品調査
X線CTを用いたin situ測定の受託分析サービス 2020/09/03 X線CTを用いたin situ測定の受託分析サービス(B0258) X線CT法
製造装置・部品
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
食品
形状評価
リチウムイオン二次電池正極材の立体構造観察・解析 2020/08/27 リチウムイオン二次電池正極材の立体構造観察・解析(C0617) X線CT法
二次電池
形状評価
構造評価
製品調査

分析のご相談・お申し込み

知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。
分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。
相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。

webからのお問い合わせはこちら

分析お問い合わせフォーム

お電話からのお問い合わせはこちら

ページトップへ

てむぞう&ますみん

てむぞう&ますみん