分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
GaN系デバイスの発光・発熱解析 2013/09/12 GaN系デバイスの発光・発熱解析(C0309) [EMS]エミッション顕微鏡法
ロックイン発熱解析法
光デバイス
故障解析・不良解析
製品調査
600V耐圧SiC Schottky Diodeのブレークダウン観察 2010/06/17 600V耐圧SiC Schottky Diodeのブレークダウン観察(C0183) [EMS]エミッション顕微鏡法
パワーデバイス
故障解析・不良解析
製品調査
照明用発光素子の総合評価 2010/01/01 照明用発光素子の総合評価(C0160) [SIMS]二次イオン質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[EMS]エミッション顕微鏡法
光デバイス
照明
組成評価・同定
微量濃度評価
組成分布評価
形状評価
故障解析・不良解析
製品調査
バイポーラトランジスタ(IGBT)の不良品調査 2010/01/01 バイポーラトランジスタ(IGBT)の不良品調査(C0153) [EMS]エミッション顕微鏡法
パワーデバイス
故障解析・不良解析
劣化調査・信頼性評価
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てむぞう&ますみん

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