照明用発光素子の総合評価(C0160)

LEDの解体から蛍光体・LEDチップなど各材料の分析まで行います

概要

省エネルギー化のキーデバイス照明用LEDについて、市販品を解体し、各材料の組成分析・不具合箇所特定・物理解析・不純物分析など実施します。

データ

蛍光体の分析：断面構造・組成

LEDチップの分析：ドーパント・不純物の濃度分布・断面構造TEM断面・不良箇所の特定

MST技術資料No.	C0160
掲載日	2010/01/01
測定法・加工法	［SIMS］二次イオン質量分析法 ［SEM］走査電子顕微鏡法 ［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM） ［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法 ［EMS］エミッション顕微鏡法
製品分野	光デバイス 照明
分析目的	組成評価・同定 微量濃度評価 組成分布評価 形状評価 故障解析・不良解析 製品調査