照明用発光素子の総合評価(C0160)

LEDの解体から蛍光体・LEDチップなど各材料の分析まで行います

MST技術資料No.C0160
掲載日2010/01/01
測定法・加工法[SIMS]二次イオン質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[EMS]エミッション顕微鏡法
製品分野光デバイス
照明
分析目的組成評価・同定
微量濃度評価
組成分布評価
形状評価
故障解析・不良解析
製品調査

概要

省エネルギー化のキーデバイス照明用LEDについて、市販品を解体し、各材料の組成分析・不具合箇所特定・物理解析・不純物分析など実施します。

データ

蛍光体の分析:断面構造・組成

LEDチップの分析:ドーパント・不純物の濃度分布・断面構造TEM断面・不良箇所の特定

関連する分析事例

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
二次電池正極導電助剤の分散状態評価 2020/05/28 二次電池正極導電助剤の分散状態評価(C0590) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Raman]ラマン分光法
二次電池
組成分布評価
構造評価
製品調査
X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察 2020/05/06 X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察(C0574) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Slice&View]三次元SEM観察法
X線CT法
クライオ加工
化粧品
日用品
構造評価
製品調査
STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価 2020/05/06 STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価(C0558) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
計算科学・データ解析
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
二次電池
酸化物半導体
構造評価
低温PL・SIMS分析によるSi基板に含まれる格子間型炭素の評価 2020/05/06 低温PL・SIMS分析によるSi基板に含まれる格子間型炭素の評価(C0481) [SIMS]二次イオン質量分析法
[PL]フォトルミネッセンス法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
微量濃度評価
構造評価
故障解析・不良解析
AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価 2020/05/06 AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価(C0451) [AES]オージェ電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
LSI・メモリ
電子部品
製造装置・部品
組成評価・同定
組成分布評価
SSDP-SIMSによるゲート電極から基板へのBの突き抜け量評価 2020/05/06 SSDP-SIMSによるゲート電極から基板へのBの突き抜け量評価(C0028) [SIMS]二次イオン質量分析法
[SSDP用加工]基板側からの測定用加工
LSI・メモリ
組成評価・同定
微量濃度評価
組成分布評価
SEMによる極低加速電圧条件での微細構造観察 2020/05/06 SEMによる極低加速電圧条件での微細構造観察(C0336) [SEM]走査電子顕微鏡法
二次電池
形状評価
SEM・TEM・EDXによる触媒材料の形態観察・成分分析 2020/05/06 SEM・TEM・EDXによる触媒材料の形態観察・成分分析(C0385) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
燃料電池
組成評価・同定
組成分布評価
形状評価
劣化調査・信頼性評価
TEM・EDXによる触媒材料の粒子径・組成評価 2020/05/06 TEM・EDXによる触媒材料の粒子径・組成評価(C0386) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
燃料電池
組成評価・同定
形状評価
劣化調査・信頼性評価
TEMによる多元系金属微粒子の結晶構造観察 2020/05/06 TEMによる多元系金属微粒子の結晶構造観察(C0116) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
酸化物半導体
構造評価

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