照明用発光素子の総合評価(C0160)

LEDの解体から蛍光体・LEDチップなど各材料の分析まで行います

MST技術資料No.C0160
掲載日2010/01/01
測定法・加工法[SIMS]二次イオン質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[EMS]エミッション顕微鏡法
製品分野光デバイス
照明
分析目的組成評価・同定
微量濃度評価
組成分布評価
形状評価
故障解析・不良解析
製品調査

概要

省エネルギー化のキーデバイス照明用LEDについて、市販品を解体し、各材料の組成分析・不具合箇所特定・物理解析・不純物分析など実施します。

データ

蛍光体の分析:断面構造・組成

LEDチップの分析:ドーパント・不純物の濃度分布・断面構造TEM断面・不良箇所の特定

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イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
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