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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価 2021/02/11 二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価(C0645) ［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法
［XPS］X線光電子分光法
［SEM］走査電子顕微鏡法
［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法
［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法
雰囲気制御下での処理
 二次電池
 化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
膜厚評価
構造評価
製品調査
二次電池正極活物質の局所領域評価 2020/07/30 二次電池正極活物質の局所領域評価(C0614) ［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法
［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）
［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法
 二次電池
 化学結合状態評価
組成分布評価
構造評価
製品調査
TEM・EDX・EELSによるアイシャドウ成分の元素分析 2020/05/06 TEM・EDX・EELSによるアイシャドウ成分の元素分析(C0302) ［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法
［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）
［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法
 化粧品
 組成評価・同定
製品調査
TEM観察によるLIB(リチウムイオン)正極材料の解析 2020/04/30 TEM観察によるLIB(リチウムイオン)正極材料の解析(C0475) ［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法
［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）
［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法
［ED］電子回折法
 二次電池
 組成評価・同定
組成分布評価
構造評価
高電子移動度トランジスタの評価 2016/02/25 高電子移動度トランジスタの評価(C0410) ［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法
［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法
 パワーデバイス
 膜厚評価
構造評価
SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価 2013/10/10 SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価(C0292) ［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法
［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）
［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法
［ED］電子回折法
［FIB］集束イオンビーム加工
 パワーデバイス
 組成評価・同定
形状評価
構造評価
リチウムイオン二次電池　Si負極の評価 2011/11/01 リチウムイオン二次電池　Si負極の評価(C0221) ［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法
［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）
［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法
 二次電池
 組成評価・同定
形状評価
劣化調査・信頼性評価
ウエハ・チップの特定箇所の前処理技術 2010/06/22 ウエハ・チップの特定箇所の前処理技術(C0184) ［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法
［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）
［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法
［FIB］集束イオンビーム加工
 LSI・メモリ
 組成評価・同定
組成分布評価
形状評価
構造評価
有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価 2010/02/03 有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価(C0164) ［SEM］走査電子顕微鏡法
［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法
［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法
 太陽電池
 組成分布評価
形状評価
FIB低加速加工 2010/01/01 FIB低加速加工(B0111) ［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法
［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法
［FIB］集束イオンビーム加工
 LSI・メモリ
光デバイス
電子部品
 形状評価
構造評価
その他
酸化チタンアナターゼ型とルチル型の判別 2010/01/01 酸化チタンアナターゼ型とルチル型の判別(C0082) ［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法
［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法
 LSI・メモリ
 組成評価・同定
化学結合状態評価
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