分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
二次電池正極活物質の局所領域評価 2020/07/30 二次電池正極活物質の局所領域評価(C0614) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
二次電池
化学結合状態評価
組成分布評価
構造評価
製品調査
TEM・EDX・EELSによるアイシャドウ成分の元素分析 2020/05/06 TEM・EDX・EELSによるアイシャドウ成分の元素分析(C0302) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
化粧品
組成評価・同定
製品調査
TEM観察によるLIB(リチウムイオン)正極材料の解析 2020/04/30 TEM観察によるLIB(リチウムイオン)正極材料の解析(C0475) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
[ED]電子回折法
二次電池
組成評価・同定
組成分布評価
構造評価
高電子移動度トランジスタの評価 2016/02/25 高電子移動度トランジスタの評価(C0410) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
パワーデバイス
膜厚評価
構造評価
SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価 2013/10/10 SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価(C0292) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
[ED]電子回折法
[FIB]集束イオンビーム加工
パワーデバイス
組成評価・同定
形状評価
構造評価
リチウムイオン二次電池 Si負極の評価 2011/11/01 リチウムイオン二次電池 Si負極の評価(C0221) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
二次電池
組成評価・同定
形状評価
劣化調査・信頼性評価
EELSスペクトラムイメージング 2010/10/21 EELSスペクトラムイメージング(B0149) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
LSI・メモリ
電子部品
二次電池
燃料電池
組成評価・同定
組成分布評価
ウエハ・チップの特定箇所の前処理技術 2010/06/22 ウエハ・チップの特定箇所の前処理技術(C0184) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
[FIB]集束イオンビーム加工
LSI・メモリ
組成評価・同定
組成分布評価
形状評価
構造評価
有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価 2010/02/03 有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価(C0164) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
太陽電池
組成分布評価
形状評価
FIB低加速加工 2010/01/01 FIB低加速加工(B0111) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
[FIB]集束イオンビーム加工
LSI・メモリ
光デバイス
電子部品
形状評価
構造評価
その他
酸化チタンアナターゼ型とルチル型の判別 2010/01/01 酸化チタンアナターゼ型とルチル型の判別(C0082) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
LSI・メモリ
組成評価・同定
化学結合状態評価
コアシェル構造の3次元形状評価 2010/01/01 コアシェル構造の3次元形状評価(C0142) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
環境
組成評価・同定
組成分布評価
形状評価
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