TEM・EDX・EELSによるアイシャドウ成分の元素分析(C0302)

ナノオーダーの形態観察・元素分析が可能

MST技術資料No.C0302
掲載日2020/05/06
測定法・加工法[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
製品分野化粧品
分析目的組成評価・同定
製品調査

概要

透過型電子顕微鏡(TEM)はμm~nmオーダーの形態観察・元素分析が可能です。
アイシャドウは固体粒子の集まりなので、粉体分散法による前処理でTEM分析を行いました。
TEM観察後、視野内の特定箇所についてEDX分析を行い、構成元素から材料を推定しました。
さらに、EELS分析により結晶型を区別することが可能です。

データ

分析サンプル

分析箇所

分析結果

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