MST｜Case

List　of Analysis Examples

掲載日	タイトル	測定法・加工法	製品分野	分析目的
2020/03/26	ポリウレタンの黄変原因調査(C0586)	[LC/MS] Liquid Chromatography Mass Spectrometry	Manufacturing equipment / parts Daily necessities	組成評価・同定製品調査
2020/03/12	加熱・冷却過程における経時変化のAFM動画観察(C0585)	[AFM]Atomic Force Microscopy	Biotechnology Medicine Daily necessities Food	形状評価
2020/02/27	リチウムイオン二次電池電解液の分子動力学シミュレーション(C0584)	Computational Science and Data Analysis	Secondary battery	構造評価
2020/02/13	トンネル磁気抵抗効果を示すFe/MgO/Fe接合系の理論計算(C0583)	Computational Science and Data Analysis	LSI /Flash Memory	構造評価その他
2020/01/30	ガラス繊維強化プラスチック(GFRP)の評価(C0582)	[TOF-SIMS] Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry [GC/MS] Gas Chromatography Mass Spectrometry [XPS]X-ray Photoelectron Spectroscopy X-ray Computed Tomography	Manufacturing equipment / parts Biotechnology Cosmetics Daily necessities	化学結合状態評価組成分布評価形状評価構造評価劣化調査・信頼性評価製品調査
2020/01/23	シリコン結晶中の不純物拡散シミュレーション(C0581)	Computational Science and Data Analysis	LSI /Flash Memory	構造評価
2020/01/16	有機EL発光層の解析(C0033)	[TOF-SIMS] Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry [XPS]X-ray Photoelectron Spectroscopy [(S)TEM] (Scanning) Transmission Electron Microscopy	Organic electro-luminescence panel/Liquid crystal display panel	組成評価・同定膜厚評価
2019/12/19	UV硬化樹脂の組成解析(C0580)	[GC/MS] Gas Chromatography Mass Spectrometry	Electronic parts Daily necessities	組成評価・同定製品調査
2019/11/28	XPSによるポリイミドの評価(C0579)	[XPS]X-ray Photoelectron Spectroscopy	Electronic parts Daily necessities	組成評価・同定化学結合状態評価劣化調査・信頼性評価
2019/10/10	α-アルミナ（α-Al2O3）のTDS分析(C0578)	［TDS］Thermal Desorption Spectrometry	LSI /Flash Memory Manufacturing equipment / parts	微量濃度評価その他
2019/10/03	リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化(C0577)	[XRD] X-ray Diffraction Computational Science and Data Analysis	Secondary battery Organic electro-luminescence panel/Liquid crystal display panel Biotechnology Medicine Cosmetics	構造評価
2019/10/03	低分子シロキサンの定量分析(C0576)	[GC/MS] Gas Chromatography Mass Spectrometry	LSI /Flash Memory Power semiconductor	組成評価・同定微量濃度評価
2019/09/05	食品中の有機体・無機体炭素量測定(C0575)	[TOC] Total Organic Carbon	Food	微量濃度評価製品調査
2019/08/29	化粧品塗膜の3D観察(C0574)	［SEM] Scanning Electron Microscopy ［Slice&View] Three-dimensional SEM Observation X-ray Computed Tomography Cryo processing	Cosmetics Daily necessities	構造評価製品調査
2019/08/29	化粧品の非破壊分析(C0573)	X-ray Computed Tomography	Cosmetics Daily necessities	構造評価製品調査
2019/08/29	電子デバイス内特異箇所の複合解析(C0572)	［SEM] Scanning Electron Microscopy ［SEM-EDX] Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (SEM) X-ray Computed Tomography ［FIB] Focused Ion Beam	Electronic parts	構造評価故障解析・不良解析製品調査
2019/07/25	FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(3)(C0571)	[FT-IR] Fourier Transform Infrared Spectroscopy	Electronic parts Daily necessities	化学結合状態評価劣化調査・信頼性評価
2019/07/25	FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(2)(C0570)	[FT-IR] Fourier Transform Infrared Spectroscopy	Electronic parts Daily necessities	化学結合状態評価劣化調査・信頼性評価
2019/07/04	TDSによる銅板・はんだの同時加熱分析(C0569)	［TDS］Thermal Desorption Spectrometry	Electronic parts Manufacturing equipment / parts	故障解析・不良解析その他
2019/06/27	エポキシ樹脂のTDS分析(C0568)	［TDS］Thermal Desorption Spectrometry	Manufacturing equipment / parts	微量濃度評価その他
2019/06/27	発泡ゴムの引っ張り試験CT測定(C0567)	X-ray Computed Tomography	Manufacturing equipment / parts Cosmetics Daily necessities	形状評価構造評価劣化調査・信頼性評価製品調査
2019/05/30	真空中での有機成分の脱離評価(C0566)	[GC/MS] Gas Chromatography Mass Spectrometry ［TDS］Thermal Desorption Spectrometry	Electronic parts Secondary battery Organic electro-luminescence panel/Liquid crystal display panel	微量濃度評価その他
2019/05/30	リチウムイオン二次電池内部の非破壊観察(C0565)	X-ray Computed Tomography	Secondary battery	形状評価構造評価製品調査
2019/05/02	FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(1)(C0561)	[FT-IR] Fourier Transform Infrared Spectroscopy	Electronic parts Daily necessities	化学結合状態評価劣化調査・信頼性評価
2019/04/25	トランジスタ内部の状態評価(C0563)	X-ray Computed Tomography	Electronic parts	構造評価故障解析・不良解析製品調査
2019/04/25	製剤中農薬原体のイメージング分析(C0540)	[TOF-SIMS] Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry	Medicine Environment	組成評価・同定組成分布評価
2019/04/25	パンケーキ内部の空隙評価(C0564)	X-ray Computed Tomography	Food	構造評価製品調査
2019/04/25	シームレスカプセルの構造評価(C0562)	X-ray Computed Tomography	Medicine	膜厚評価構造評価製品調査
2019/04/11	走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察(C0545)	[SIM] Scanning Ion Microscopy	LSI /Flash Memory	構造評価
2019/04/11	SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較(C0543)	［SEM] Scanning Electron Microscopy [SIM] Scanning Ion Microscopy	LSI /Flash Memory	構造評価

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Methods of Measurement and Processing

Product Fields

Purpose of The Analysis

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Consultation and application for analysis

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