化粧品の非破壊分析(C0573)

製品の内部構造を非破壊で評価

MST技術資料No.C0573
掲載日2019/08/29
測定法・加工法X線CT法
製品分野化粧品
日用品
分析目的構造評価
製品調査

概要

X線CTは非破壊で試料の内部構造を測定できる分析手法であり、化粧品内部の異物、空隙、亀裂などの異常箇所の調査や、パール剤等の分散確認などの出来栄え評価に適しています。
本事例ではファンデーションや口紅をX線CTで測定し、内部の構造を非破壊で評価しました。

データ

ファンデーションのX線CT分析

図1 X線CT像
A:正面からみた断面像
B:側面から見た断面像
  • ケースに入った粉末ファンデーション全景観察より、数mm長の亀裂を確認(白矢印)

口紅のX線CT分析

ポイント

  • 化粧品内部の構造をインタクトな状態で評価可能
  • 空隙や粒子等の分布、体積率の解析により出来栄え評価が可能

関連する分析事例

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
リチウムイオン二次電池負極材の構造評価 2020/09/24 リチウムイオン二次電池負極材の構造評価(C0627) X線CT法
二次電池
形状評価
構造評価
製品調査
リチウムイオン二次電池正極材の立体構造観察・解析 2020/08/27 リチウムイオン二次電池正極材の立体構造観察・解析(C0617) X線CT法
二次電池
形状評価
構造評価
製品調査
3Dプリンター造形物の三次元構造解析 2020/08/06 3Dプリンター造形物の三次元構造解析(C0615) X線CT法
製造装置・部品
日用品
形状評価
製品調査
Xe-PFIBを用いた広域断面のSEM観察 2020/07/16 Xe-PFIBを用いた広域断面のSEM観察(C0610) [SEM]走査電子顕微鏡法
X線CT法
[FIB]集束イオンビーム加工
LSI・メモリ
形状評価
構造評価
製品調査
Xe-プラズマFIBによる構造解析 2020/07/16 Xe-プラズマFIBによる構造解析(B0255) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Slice&View]三次元SEM観察法
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
X線CT法
[FIB]集束イオンビーム加工
その他
LSI・メモリ
形状評価
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
不織布マスクの構造解析 2020/06/18 不織布マスクの構造解析(C0596) X線CT法
日用品
ウイルス対策関連品
構造評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
X線CT・GC/MSによるガラス繊維強化プラスチック(GFRP)の評価 2020/05/06 X線CT・GC/MSによるガラス繊維強化プラスチック(GFRP)の評価(C0582) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
X線CT法
製造装置・部品
バイオテクノロジ
化粧品
日用品
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察 2020/05/06 X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察(C0574) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Slice&View]三次元SEM観察法
X線CT法
クライオ加工
化粧品
日用品
構造評価
製品調査
X線CTによる発泡ゴムの引っ張り試験評価 2020/05/06 X線CTによる発泡ゴムの引っ張り試験評価(C0567) X線CT法
製造装置・部品
化粧品
日用品
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
X線CTによる発泡ウレタン内部の空隙率評価 2020/05/06 X線CTによる発泡ウレタン内部の空隙率評価(C0539) X線CT法
日用品
その他
形状評価
構造評価
製品調査

分析のご相談・お申し込み

知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。
分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。
相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。

webからのお問い合わせはこちら

分析お問い合わせフォーム

お電話からのお問い合わせはこちら

ページトップへ

てむぞう&ますみん

てむぞう&ますみん