分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
TDSによる銅板・はんだの同時加熱分析 2019/07/04 TDSによる銅板・はんだの同時加熱分析(C0569) [TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
製造装置・部品
故障解析・不良解析
その他
エポキシ樹脂のTDS分析 2019/06/27 エポキシ樹脂のTDS分析(C0568) [TDS]昇温脱離ガス分析法
製造装置・部品
微量濃度評価
その他
真空中での有機成分の脱離評価 2019/05/30 真空中での有機成分の脱離評価(C0566) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
二次電池
ディスプレイ
微量濃度評価
その他
TDSによるグラフェンの脱ガス分析 2019/02/21 TDSによるグラフェンの脱ガス分析(C0553) [TDS]昇温脱離ガス分析法
太陽電池
二次電池
ディスプレイ
その他
微量濃度評価
その他
TDSによるステンレス中水素脱離量の分析 2018/09/20 TDSによるステンレス中水素脱離量の分析(C0531) [TDS]昇温脱離ガス分析法
製造装置・部品
微量濃度評価
その他
TDSによる温度保持中の脱ガス評価 2018/08/23 TDSによる温度保持中の脱ガス評価(C0530) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
製造装置・部品
微量濃度評価
その他
TDSによる腐食性ガス分析 2017/12/28 TDSによる腐食性ガス分析(C0500) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
電子部品
製造装置・部品
微量濃度評価
故障解析・不良解析
その他
TDSによる有機膜の熱処理温度依存性評価 2017/12/21 TDSによる有機膜の熱処理温度依存性評価(C0499) [TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
その他
TDSによるレジスト膜の脱ガス評価 2017/12/21 TDSによるレジスト膜の脱ガス評価(C0498) [TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
その他
水素終端ウエハの脱ガス分析 2017/08/31 水素終端ウエハの脱ガス分析(C0483) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
微量濃度評価
その他
めっき試料の脱ガス評価 2017/03/30 めっき試料の脱ガス評価(C0464) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
組成評価・同定
微量濃度評価
代表的な材料・目的別のTDS解析例 2017/03/30 代表的な材料・目的別のTDS解析例(B0232) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
ディスプレイ
製造装置・部品
酸化物半導体
微量濃度評価
その他
金属(Sn)の昇温脱離ガス分析 2017/02/02 金属(Sn)の昇温脱離ガス分析(C0458) [TDS]昇温脱離ガス分析法
製造装置・部品
組成評価・同定
その他
有機フィルムの昇温脱離ガス分析(TDS) 2016/12/08 有機フィルムの昇温脱離ガス分析(TDS)(C0452) [TDS]昇温脱離ガス分析法
ディスプレイ
日用品
組成評価・同定
微量濃度評価
TDSによる脱離成分の推定 2016/12/08 TDSによる脱離成分の推定(C0453) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
組成評価・同定
ガラス試料のTDS分析 2016/12/01 ガラス試料のTDS分析(C0378) [TDS]昇温脱離ガス分析法
ディスプレイ
微量濃度評価
その他
TDSによるSiN膜の昇温脱離ガス分析 2016/01/14 TDSによるSiN膜の昇温脱離ガス分析(C0403) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
組成評価・同定
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