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分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
代表的な材料・目的別のTDS解析例 2017/03/30 代表的な材料・目的別のTDS解析例(B0232) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
ディスプレイ
製造装置・部品
酸化物半導体
微量濃度評価
その他
石英・ガラス中の「水」の評価 2017/02/16 石英・ガラス中の「水」の評価(C0460) [SIMS]二次イオン質量分析法
その他
電子部品
ディスプレイ
微量濃度評価
劣化調査・信頼性評価
有機フィルムの昇温脱離ガス分析(TDS) 2016/12/08 有機フィルムの昇温脱離ガス分析(TDS)(C0452) [TDS]昇温脱離ガス分析法
ディスプレイ
日用品
組成評価・同定
微量濃度評価
ガラス試料のTDS分析 2016/12/01 ガラス試料のTDS分析(C0378) [TDS]昇温脱離ガス分析法
ディスプレイ
微量濃度評価
その他
エポキシ樹脂の構造解析 2016/11/17 エポキシ樹脂の構造解析(C0448) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
製品調査
XAFSによるシリコン酸化膜評価 2016/10/06 XAFSによるシリコン酸化膜評価(C0439) [XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
二次電池
ディスプレイ
酸化物半導体
化学結合状態評価
構造評価
MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)について 2016/03/10 MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)について(B0221) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析 2016/03/10 MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析(C0413) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの評価 2016/02/25 MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの評価(C0411) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
有機EL素子の層構造評価 2015/12/03 有機EL素子の層構造評価(C0088) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
ディスプレイ
組成評価・同定
有機EL発光層の成分分析 2015/12/03 有機EL発光層の成分分析(C0112) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
ディスプレイ
組成評価・同定
有機EL素子の劣化評価 2015/12/03 有機EL素子の劣化評価(C0132) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
ディスプレイ
組成評価・同定
化学結合状態評価
製品調査
有機膜材料の配向角評価 2015/08/20 有機膜材料の配向角評価(B0215) [XAFS]X線吸収微細構造
電子部品
太陽電池
照明
ディスプレイ
日用品
化学結合状態評価
構造評価
薄膜表面処理後の仕事関数評価 2015/05/28 薄膜表面処理後の仕事関数評価(C0382) [UPS]紫外光電子分光法
電子部品
太陽電池
ディスプレイ
その他
XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価 2015/05/21 XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価(C0381) [XPS]X線光電子分光法
パワーデバイス
光デバイス
照明
ディスプレイ
酸化物半導体
組成評価・同定
化学結合状態評価
低温フォトルミネッセンス測定の注意事項 2015/05/14 低温フォトルミネッセンス測定の注意事項(B0208) [PL]フォトルミネッセンス法
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
照明
ディスプレイ
構造評価
マイクロサンプリングツールを用いた異物分析 2015/03/26 マイクロサンプリングツールを用いた異物分析(C0363) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
[Raman]ラマン分光法
その他
電子部品
照明
ディスプレイ
製造装置・部品
日用品
組成評価・同定
化学結合状態評価
故障解析・不良解析
異なる環境下で保管したCuの酸化膜厚評価 2015/03/26 異なる環境下で保管したCuの酸化膜厚評価(C0372) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
電子部品
ディスプレイ
化学結合状態評価
Cu表面自然酸化膜の層構造・膜厚評価 2015/03/26 Cu表面自然酸化膜の層構造・膜厚評価(C0373) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
電子部品
ディスプレイ
化学結合状態評価
熱分解GC/MSによるスマートフォン封止剤の分析 2015/02/26 熱分解GC/MSによるスマートフォン封止剤の分析(C0371) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
電子部品
ディスプレイ
組成評価・同定
製品調査
マススペクトルシミュレーションによる構造解析 2014/05/22 マススペクトルシミュレーションによる構造解析(C0295) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
計算科学・データ解析
照明
ディスプレイ
製造装置・部品
化学結合状態評価
製品調査
マススペクトルシミュレーションのご紹介 2014/05/22 マススペクトルシミュレーションのご紹介(B0186) [LC/MS/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
計算科学・データ解析
照明
ディスプレイ
製造装置・部品
化学結合状態評価
製品調査
有機ELパネルの構造評価 2013/10/24 有機ELパネルの構造評価(C0311) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価
膜厚評価
製品調査
化合物積層構造試料のSIMS分析 2012/12/27 化合物積層構造試料のSIMS分析(C0269) [SIMS]二次イオン質量分析法
その他
パワーデバイス
光デバイス
照明
ディスプレイ
微量濃度評価
IGZO 薄膜の結晶性・膜密度評価 2012/12/27 IGZO 薄膜の結晶性・膜密度評価(C0283) [XRD]X線回折法
[XRR]X線反射率法
LSI・メモリ
ディスプレイ
酸化物半導体
膜厚評価
構造評価
熱物性評価
テクスチャ付きGaN系LEDの元素分布評価 2012/12/06 テクスチャ付きGaN系LEDの元素分布評価(C0248) [SIMS]二次イオン質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SSDP用加工]基板側からの測定用加工
その他
パワーデバイス
照明
ディスプレイ
微量濃度評価
製品調査
ポリイミド成分の深さ方向分析 2012/06/07 ポリイミド成分の深さ方向分析(C0242) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
光デバイス
電子部品
照明
ディスプレイ
日用品
化学結合状態評価
組成分布評価
劣化調査・信頼性評価
GCIB(Arクラスター)を用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析 2012/06/07 GCIB(Arクラスター)を用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析(C0241) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
組成分布評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
RGB素子の有機EL材料の深さ方向分析 2012/06/07 RGB素子の有機EL材料の深さ方向分析(C0243) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
照明
ディスプレイ
化学結合状態評価
組成分布評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
Si酸化膜・ITO膜中の「水」の評価 2012/04/12 Si酸化膜・ITO膜中の「水」の評価(C0178) [SIMS]二次イオン質量分析法
その他
電子部品
ディスプレイ
微量濃度評価
劣化調査・信頼性評価

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