TOF-SIMS・LC/MSによる有機EL(OLED)の構造評価(C0490)
1画素ごと、各層ごとに成分を同定することが可能です
概要
今後需要が拡大する有機ELの信頼性向上のため、詳細な構造解析や状態分析、劣化原因の特定がさらに重要となります。TOF-SIMSとLC/MSを用い、層構造や材料を評価した事例をご紹介します。
TOF-SIMSにより、層構造と各層の成分情報を評価できました。TOF-SIMSで明らかになった質量Eの成分についてLC/MSおよび蛍光検出器による分析を行い、発光波長の評価と成分の構造を把握することができました。このように、TOF-SIMSとLC/MSを組み合わせた分析により、詳細な評価が可能です。
データ
TOF-SIMS
LC/MS+蛍光検出器
ポイント
TOF-SIMSとLC/MSの組み合わせで、より詳細な成分情報が取得可能