液晶ディスプレイの劣化分析(C0601)

液晶、配向膜、シール材、TFTなどを総合的に評価します。

概要

液晶表示パネルの劣化メカニズム解明は、パネルの長寿命化にかかせない重要なテーマです。 劣化症状のうち輝度の低下は、液晶、配向膜、シール材、TFTと多岐に渡った要因が考えられます。 表面・構造・組成・計算科学等を複合的に分析します。良品と不良品のわずかな差異をとらえ、 総合的な評価を行うことで、液晶ディスプレイの劣化メカニズムの解明につながります。

開発課題に対する総合的な分析評価

パネル解体、液晶抽出、各種溶媒による液晶洗浄から対応可能です

液晶ディスプレイの劣化分析

表:液晶ディスプレイ分析内容

液晶ディスプレイの劣化分析 液晶ディスプレイの劣化分析

MST技術資料No.C0601
掲載日2020/06/25
測定法・加工法[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[IC]イオンクロマトグラフ法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[AFM]原子間力顕微鏡法
[SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法
計算科学・AI・データ解析
製品分野ディスプレイ
分析目的微量濃度評価
化学結合状態評価
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価

関連する分析事例

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
GaN基板の表面形状分析 2024/04/25 GaN基板の表面形状分析(C0708) [AFM]原子間力顕微鏡法
パワーデバイス
電子部品
照明
形状評価
トレンチ型Si-MOSFETの IDSSリーク箇所の複合解析 2024/04/04 トレンチ型Si-MOSFETの IDSSリーク箇所の複合解析(C0707) [SEM]走査電子顕微鏡法
[SCM]走査型静電容量顕微鏡法・[SNDM]走査型非線形誘電率顕微鏡法
[EMS]エミッション顕微鏡法
パワーデバイス
故障解析・不良解析
NMRと分子動力学計算を用いた低分子化合物-タンパク質間相互作用の解析 2024/02/08 NMRと分子動力学計算を用いた低分子化合物-タンパク質間相互作用の解析(B0296) [NMR]核磁気共鳴分析
計算科学・AI・データ解析
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
化学結合状態評価
セラミックスのぬれ性原因評価 2023/12/28 セラミックスのぬれ性原因評価(C0705) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
製造装置・部品
組成評価・同定
セラミックス表面における洗浄成分の分布評価 2023/12/28 セラミックス表面における洗浄成分の分布評価(C0704) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
製造装置・部品
日用品
その他
化学結合状態評価
組成分布評価
故障解析・不良解析
セラミックスの変色原因評価 2023/12/21 セラミックスの変色原因評価(C0703) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
製造装置・部品
組成分布評価
ノーマリーオフ型GaN HEMT二次元電子ガス層評価 2023/11/30 ノーマリーオフ型GaN HEMT二次元電子ガス層評価(C0702) [SIMS]二次イオン質量分析法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[SCM]走査型静電容量顕微鏡法・[SNDM]走査型非線形誘電率顕微鏡法
[SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法
パワーデバイス
微量濃度評価
形状評価
構造評価
製品調査
量子化学計算によるアゾベンゼン類の電気化学特性評価 2023/11/09 量子化学計算によるアゾベンゼン類の電気化学特性評価(C0701) 計算科学・AI・データ解析
二次電池
化学結合状態評価
燃焼-イオンクロマトグラフィ-分析(燃焼-IC) 2023/07/06 燃焼-イオンクロマトグラフィ-分析(燃焼-IC)(B0292) [IC]イオンクロマトグラフ法
高分子材料
化粧品
日用品
食品
環境
製品調査
その他
機械部品の洗浄前後における付着成分調査 2023/04/13 機械部品の洗浄前後における付着成分調査(C0693) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
製造装置・部品
その他
組成評価・同定

分析のご相談・お申し込み

知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。
分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。
相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。

webからのお問い合わせはこちら

分析お問い合わせフォーム

お電話からのお問い合わせはこちら

ページトップへ