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分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
メルブロミンの皮膚への浸透性評価 2018/02/15 メルブロミンの皮膚への浸透性評価(C0506) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
医薬品
化粧品
組成分布評価
液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察 2018/02/08 液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察(C0508) [AFM]原子間力顕微鏡法
電子部品
ディスプレイ
製造装置・部品
医薬品
日用品
形状評価
尿中のカテキン代謝物のLC/MS/MS分析 2018/02/01 尿中のカテキン代謝物のLC/MS/MS分析(C0505) [LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
バイオテクノロジ
医薬品
食品
組成評価・同定
その他
XPSにおける吸着酸素の影響 2018/02/01 XPSにおける吸着酸素の影響(B0240) [XPS]X線光電子分光法
LSI・メモリ
パワーデバイス
組成評価・同定
ポジ型フォトレジストの構造解析 2018/01/18 ポジ型フォトレジストの構造解析(C0504) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
電子部品
組成評価・同定
粘着シートによる電子部品の汚染評価 2018/01/18 粘着シートによる電子部品の汚染評価(C0501) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
組成評価・同定
微量濃度評価
組成分布評価
故障解析・不良解析
TDSによる腐食性ガス分析 2017/12/28 TDSによる腐食性ガス分析(C0500) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
電子部品
製造装置・部品
微量濃度評価
故障解析・不良解析
その他
TDSによる有機膜の熱処理温度依存性評価 2017/12/21 TDSによる有機膜の熱処理温度依存性評価(C0499) [TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
その他
TDSによるレジスト膜の脱ガス評価 2017/12/21 TDSによるレジスト膜の脱ガス評価(C0498) [TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
その他
TOF-SIMSによる粉体粒子表面の分布評価 2017/12/21 TOF-SIMSによる粉体粒子表面の分布評価(C0497) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
二次電池
組成分布評価
三次元培養ヒト皮膚表面の微細形状観察 2017/11/23 三次元培養ヒト皮膚表面の微細形状観察(C0496) [AFM]原子間力顕微鏡法
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
形状評価
TOF-SIMS・LC/MS/MSによる三次元培養ヒト皮膚を用いた経皮吸収評価 2017/11/23 TOF-SIMS・LC/MS/MSによる三次元培養ヒト皮膚を用いた経皮吸収評価(C0495) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[LC/MS/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
クライオ加工
その他
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
組成分布評価
安全性試験
PL・TEMによるSiCパワーデバイスの結晶欠陥評価 2017/11/15 PL・TEMによるSiCパワーデバイスの結晶欠陥評価(C0494) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[PL]フォトルミネッセンス法
[FIB]集束イオンビーム加工
その他
パワーデバイス
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
AFMによる注射針の表面微細構造観察 2017/10/26 AFMによる注射針の表面微細構造観察(C0493) [SEM]走査電子顕微鏡法
[AFM]原子間力顕微鏡法
医薬品
形状評価
製品調査
安全性試験
XPSによるSn酸化物の価数評価 2017/10/26 XPSによるSn酸化物の価数評価(C0492) [XPS]X線光電子分光法
酸化物半導体
日用品
化学結合状態評価
その他
こんにゃく中のグルコシルセラミド定量分析 2017/10/19 こんにゃく中のグルコシルセラミド定量分析(C0491) [HPLC]高速液体クロマトグラフ法
食品
組成評価・同定
微量濃度評価
製品調査
有機EL(OLED)の材料構造評価 2017/09/28 有機EL(OLED)の材料構造評価(C0490) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価
膜厚評価
故障解析・不良解析
製品調査
炭素材料のラマンマッピング 2017/09/28 炭素材料のラマンマッピング(C0489) [Raman]ラマン分光法
電子部品
二次電池
製造装置・部品
医薬品
組成分布評価
構造評価
洗濯用洗剤に含まれる蛍光染料の分析 2017/09/21 洗濯用洗剤に含まれる蛍光染料の分析(C0488) [LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
日用品
その他
製品調査
GPCによる分子量分布測定 2017/09/21 GPCによる分子量分布測定(B0239) [HPLC]高速液体クロマトグラフ法
ディスプレイ
製造装置・部品
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
食品
劣化調査・信頼性評価
製品調査
涙液・唾液中の成分分析 2017/09/14 涙液・唾液中の成分分析(C0487) [LC/MS/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
医薬品
組成評価・同定
AESによるボンディング界面の元素分析 2017/09/14 AESによるボンディング界面の元素分析(C0486) [AES]オージェ電子分光法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
故障解析・不良解析
Si系IGBTチップ断面の低温顕微PL分析 2017/09/14 Si系IGBTチップ断面の低温顕微PL分析(C0485) [PL]フォトルミネッセンス法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
燃料電池等の窒素ドープカーボン材料における窒素の置換位置評価 2017/09/07 燃料電池等の窒素ドープカーボン材料における窒素の置換位置評価(C0484) [XPS]X線光電子分光法
燃料電池
化学結合状態評価
構造評価
フコイダンの糖組成の定量分析 2017/09/07 フコイダンの糖組成の定量分析(C0471) [HPLC]高速液体クロマトグラフ法
食品
組成評価・同定
微量濃度評価
製品調査
水素終端ウエハの脱ガス分析 2017/08/31 水素終端ウエハの脱ガス分析(C0483) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
微量濃度評価
その他
低温PL・SIMS分析によるSi基板に含まれる格子間型炭素の評価 2017/08/31 低温PL・SIMS分析によるSi基板に含まれる格子間型炭素の評価(C0481) [SIMS]二次イオン質量分析法
[PL]フォトルミネッセンス法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
微量濃度評価
構造評価
故障解析・不良解析
XRFによるウエハ上Au薄膜の面内膜厚評価 2017/08/24 XRFによるウエハ上Au薄膜の面内膜厚評価(C0480) [XRF]蛍光X線分析法
パワーデバイス
照明
製造装置・部品
組成評価・同定
組成分布評価
XRFによるウエハ上Au薄膜の付着量評価 2017/08/24 XRFによるウエハ上Au薄膜の付着量評価(C0479) [XRF]蛍光X線分析法
パワーデバイス
照明
製造装置・部品
組成評価・同定
組成分布評価
酸化アルミニウム薄膜の局所構造解析 2017/08/10 酸化アルミニウム薄膜の局所構造解析(C0478) [XAFS]X線吸収微細構造
LSI・メモリ
製造装置・部品
化学結合状態評価
構造評価

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