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分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
酸化アルミニウム薄膜の局所構造解析 2017/08/10 酸化アルミニウム薄膜の局所構造解析(C0478) [XAFS]X線吸収微細構造
LSI・メモリ
製造装置・部品
化学結合状態評価
構造評価
リチウムイオン二次電池正極材料の原子分解能分析 2017/08/03 リチウムイオン二次電池正極材料の原子分解能分析(C0475) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
[ED]電子回折法
二次電池
組成評価・同定
組成分布評価
構造評価
AFMによる毛髪表面の微細構造観察 2017/07/27 AFMによる毛髪表面の微細構造観察(C0474) [AFM]原子間力顕微鏡法
医薬品
化粧品
形状評価
医薬品の結晶多形評価 2017/07/13 医薬品の結晶多形評価(C0473) [XRD]X線回折法
医薬品
組成評価・同定
構造評価
XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価 2017/06/29 XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価(C0472) [XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
照明
化学結合状態評価
構造評価
繊維中のノニルフェノールエトキシレート分析 2017/05/25 繊維中のノニルフェノールエトキシレート分析(C0470) [LC/MS/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
日用品
環境
組成評価・同定
微量濃度評価
製品調査
有機ふっ素化合物(PFOS・PFOA等)の分析 2017/05/25 有機ふっ素化合物(PFOS・PFOA等)の分析(C0469) [LC/MS/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
日用品
環境
組成評価・同定
微量濃度評価
注射針表面のコーティング膜評価 2017/05/25 注射針表面のコーティング膜評価(C0468) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
医薬品
その他
組成評価・同定
組成分布評価
故障解析・不良解析
製品調査
タンパク質のショットガン解析 2017/05/18 タンパク質のショットガン解析(B0235) [LC/MS/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
食品
組成評価・同定
製品調査
安全性試験
三次元培養ヒト皮膚中インドメタシンの経皮吸収評価 2017/05/11 三次元培養ヒト皮膚中インドメタシンの経皮吸収評価(C0467) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
医薬品
化粧品
組成評価・同定
組成分布評価
SiN膜中の金属汚染評価 2017/04/06 SiN膜中の金属汚染評価(C0465) [ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
製造装置・部品
微量濃度評価
Siウエハ表面の金属汚染評価 2017/04/06 Siウエハ表面の金属汚染評価(B0233) [ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
製造装置・部品
環境
微量濃度評価
LC/MS/MSによるペプチドの配列解析 2017/04/06 LC/MS/MSによるペプチドの配列解析(C0466) [LC/MS/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
バイオテクノロジ
医薬品
組成評価・同定
製品調査
めっき試料の脱ガス評価 2017/03/30 めっき試料の脱ガス評価(C0464) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
組成評価・同定
微量濃度評価
代表的な材料・目的別のTDS解析例 2017/03/30 代表的な材料・目的別のTDS解析例(B0232) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
ディスプレイ
製造装置・部品
酸化物半導体
微量濃度評価
その他
酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価 2017/03/16 酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価(C0462) [XPS]X線光電子分光法
[XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
太陽電池
照明
酸化物半導体
その他
ウエハケース内ウエハの有機汚染評価 2017/03/16 ウエハケース内ウエハの有機汚染評価(C0461) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
組成評価・同定
微量濃度評価
環境中微量金属元素分析 2017/03/09 環境中微量金属元素分析(B0231) [ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
環境
微量濃度評価
石英・ガラス中の「水」の評価 2017/02/16 石英・ガラス中の「水」の評価(C0460) [SIMS]二次イオン質量分析法
その他
電子部品
ディスプレイ
微量濃度評価
劣化調査・信頼性評価
金属(Sn)の昇温脱離ガス分析 2017/02/02 金属(Sn)の昇温脱離ガス分析(C0458) [TDS]昇温脱離ガス分析法
製造装置・部品
組成評価・同定
その他
テープ粘着剤の構造解析 2017/02/02 テープ粘着剤の構造解析(C0459) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
日用品
組成評価・同定
製品調査
チタンテトラアルコキシドのTOF-SIMS分析 2017/01/26 チタンテトラアルコキシドのTOF-SIMS分析(C0457) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
劣化調査・信頼性評価
試料環境制御in-situ XAFSによるRuO2触媒の化学状態評価 2017/01/19 試料環境制御in-situ XAFSによるRuO2触媒の化学状態評価(C0456) [XAFS]X線吸収微細構造
燃料電池
その他
化学結合状態評価
燃料電池用PtRu触媒の雰囲気・温度制御下での金属価数評価(in-situ XAFS) 2017/01/19 燃料電池用PtRu触媒の雰囲気・温度制御下での金属価数評価(in-situ XAFS)(C0455) [XAFS]X線吸収微細構造
燃料電池
その他
化学結合状態評価
TOF-SIMSによる微小ビアのイメージ分析 2017/01/12 TOF-SIMSによる微小ビアのイメージ分析(C0454) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
電子部品
組成分布評価
故障解析・不良解析
ウエハアナライザーを用いた有機汚染評価 2016/12/15 ウエハアナライザーを用いた有機汚染評価(B0230) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
製造装置・部品
酸化物半導体
組成評価・同定
微量濃度評価
故障解析・不良解析
有機フィルムの昇温脱離ガス分析(TDS) 2016/12/08 有機フィルムの昇温脱離ガス分析(TDS)(C0452) [TDS]昇温脱離ガス分析法
ディスプレイ
日用品
組成評価・同定
微量濃度評価
TDSによる脱離成分の推定 2016/12/08 TDSによる脱離成分の推定(C0453) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
組成評価・同定
AESによるCu表面変色部の評価 2016/12/01 AESによるCu表面変色部の評価(C0451) [AES]オージェ電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
LSI・メモリ
電子部品
製造装置・部品
組成評価・同定
組成分布評価
ガラス試料のTDS分析 2016/12/01 ガラス試料のTDS分析(C0378) [TDS]昇温脱離ガス分析法
ディスプレイ
微量濃度評価
その他

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