分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価 2019/03/14 STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価(C0558) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
計算科学・データ解析
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
二次電池
酸化物半導体
構造評価
CMOSセンサの総合評価 2018/11/29 CMOSセンサの総合評価(C0537) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
光デバイス
電子部品
組成評価・同定
形状評価
構造評価
リチウムイオン二次電池正極材料の原子分解能分析 2017/08/03 リチウムイオン二次電池正極材料の原子分解能分析(C0475) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
[ED]電子回折法
二次電池
組成評価・同定
組成分布評価
構造評価
チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラム観察 2015/07/30 チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラム観察(C0390) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
LSI・メモリ
形状評価
構造評価
固体高分子燃料電池 触媒材料の形態観察・成分分析 2015/07/09 固体高分子燃料電池 触媒材料の形態観察・成分分析(C0385) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
燃料電池
組成評価・同定
組成分布評価
形状評価
劣化調査・信頼性評価
固体高分子燃料電池 触媒材料の粒子径・組成評価 2015/07/09 固体高分子燃料電池 触媒材料の粒子径・組成評価(C0386) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
燃料電池
組成評価・同定
形状評価
劣化調査・信頼性評価
微細トランジスタの構造評価 2014/04/17 微細トランジスタの構造評価(C0338) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
LSI・メモリ
組成分布評価
形状評価
膜厚評価
構造評価
CIGS薄膜太陽電池の原子レベル構造分析 2014/04/17 CIGS薄膜太陽電池の原子レベル構造分析(C0339) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
太陽電池
組成分布評価
形状評価
膜厚評価
構造評価
SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価 2013/10/10 SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価(C0292) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
[ED]電子回折法
[FIB]集束イオンビーム加工
パワーデバイス
組成評価・同定
形状評価
構造評価
アイシャドウ成分の元素分析 2013/05/23 アイシャドウ成分の元素分析(C0302) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
化粧品
組成評価・同定
製品調査
リチウムイオン二次電池 Si負極の評価 2011/11/01 リチウムイオン二次電池 Si負極の評価(C0221) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
二次電池
組成評価・同定
形状評価
劣化調査・信頼性評価
ウエハ・チップの特定箇所の前処理技術 2010/06/22 ウエハ・チップの特定箇所の前処理技術(C0184) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
[FIB]集束イオンビーム加工
LSI・メモリ
組成評価・同定
組成分布評価
形状評価
構造評価
マイクロサンプリング法 2010/01/01 マイクロサンプリング法(B0004) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[FIB]集束イオンビーム加工
電子部品
太陽電池
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
組成分布評価
形状評価
構造評価
故障解析・不良解析
球面収差補正機能 2010/01/01 球面収差補正機能(B0108) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
LSI・メモリ
電子部品
組成分布評価
構造評価
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