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分析事例一覧

イメージ	掲載日	タイトル	測定法・加工法	製品分野	分析目的
	2021/01/14	毛髪断面の微細構造（S)TEM分析(C0643)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）ウルトラミクロトーム加工その他	バイオテクノロジ医薬品化粧品日用品	組成評価・同定組成分布評価形状評価膜厚評価
	2020/07/30	二次電池正極活物質の局所領域評価(C0614)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法	二次電池	化学結合状態評価組成分布評価構造評価製品調査
	2020/05/06	STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価(C0558)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）計算科学・AI・データ解析	LSI・メモリパワーデバイス光デバイス太陽電池二次電池酸化物半導体	構造評価
	2020/05/06	SEM・TEM・EDXによる触媒材料の形態観察・成分分析(C0385)	［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）	燃料電池	組成評価・同定組成分布評価形状評価劣化調査・信頼性評価
	2020/05/06	TEM・EDXによる触媒材料の粒子径・組成評価(C0386)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）	燃料電池	組成評価・同定形状評価劣化調査・信頼性評価
	2020/05/06	TEM・EDX・EELSによるアイシャドウ成分の元素分析(C0302)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法	化粧品	組成評価・同定製品調査
	2020/04/30	TEM観察によるLIB(リチウムイオン)正極材料の解析(C0475)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法［ED］電子回折法	二次電池	組成評価・同定組成分布評価構造評価
	2018/11/29	CMOSセンサの総合評価(C0537)	［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）	光デバイス電子部品	組成評価・同定形状評価構造評価
	2015/07/30	チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラム観察(C0390)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）	LSI・メモリ	形状評価構造評価
	2014/04/17	微細トランジスタの構造評価(C0338)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）	LSI・メモリ	組成分布評価形状評価膜厚評価構造評価
	2014/04/17	CIGS薄膜太陽電池の原子レベル構造分析(C0339)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）	太陽電池	組成分布評価形状評価膜厚評価構造評価
	2013/10/10	SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価(C0292)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法［ED］電子回折法［FIB］集束イオンビーム加工	パワーデバイス	組成評価・同定形状評価構造評価
	2011/11/01	リチウムイオン二次電池　Si負極の評価(C0221)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法	二次電池	組成評価・同定形状評価劣化調査・信頼性評価
	2010/06/22	ウエハ・チップの特定箇所の前処理技術(C0184)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法［FIB］集束イオンビーム加工	LSI・メモリ	組成評価・同定組成分布評価形状評価構造評価
	2010/01/01	マイクロサンプリング法(B0004)	［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）［FIB］集束イオンビーム加工	電子部品太陽電池照明ディスプレイ	組成評価・同定組成分布評価形状評価構造評価故障解析・不良解析
	2010/01/01	球面収差補正機能(B0108)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）	LSI・メモリ電子部品	組成分布評価構造評価

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