CMOSセンサの総合評価(C0537)

スマートフォン部品のリバースエンジニアリング

MST技術資料No.C0537
掲載日2018/11/29
測定法・加工法[SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
製品分野光デバイス
電子部品
分析目的組成評価・同定
形状評価
構造評価

概要

市販品のスマートフォンからレンズ、CMOSセンサチップをそれぞれ取り出し、評価した事例をご紹介します。
目的に応じて研磨・FIB加工により、平面、断面を作製し、TEM,SEMにより層構造やレイヤーを確認しまた。さらに、EDXにより膜種の同定を行いました。MSTでは、解体から分析まで一貫してお引き受けが可能です。

データ

関連する分析事例

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
二次電池正極導電助剤の分散状態評価 2020/05/28 二次電池正極導電助剤の分散状態評価(C0590) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Raman]ラマン分光法
二次電池
組成分布評価
構造評価
製品調査
X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察 2020/05/06 X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察(C0574) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Slice&View]三次元SEM観察法
X線CT法
クライオ加工
化粧品
日用品
構造評価
製品調査
STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価 2020/05/06 STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価(C0558) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
計算科学・データ解析
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
二次電池
酸化物半導体
構造評価
AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価 2020/05/06 AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価(C0451) [AES]オージェ電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
LSI・メモリ
電子部品
製造装置・部品
組成評価・同定
組成分布評価
SEMによる極低加速電圧条件での微細構造観察 2020/05/06 SEMによる極低加速電圧条件での微細構造観察(C0336) [SEM]走査電子顕微鏡法
二次電池
形状評価
SEM・TEM・EDXによる触媒材料の形態観察・成分分析 2020/05/06 SEM・TEM・EDXによる触媒材料の形態観察・成分分析(C0385) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
燃料電池
組成評価・同定
組成分布評価
形状評価
劣化調査・信頼性評価
TEM・EDXによる触媒材料の粒子径・組成評価 2020/05/06 TEM・EDXによる触媒材料の粒子径・組成評価(C0386) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
燃料電池
組成評価・同定
形状評価
劣化調査・信頼性評価
TEMによる多元系金属微粒子の結晶構造観察 2020/05/06 TEMによる多元系金属微粒子の結晶構造観察(C0116) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
酸化物半導体
構造評価
クライオFIB-SEMによる加工食品中エマルションの観察 2020/05/06 クライオFIB-SEMによる加工食品中エマルションの観察(C0327) [SEM]走査電子顕微鏡法
[FIB]集束イオンビーム加工
クライオ加工
食品
形状評価
TEM・EDX・EELSによるアイシャドウ成分の元素分析 2020/05/06 TEM・EDX・EELSによるアイシャドウ成分の元素分析(C0302) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
化粧品
組成評価・同定
製品調査

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