分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
FT-IRによる樹脂の硬化反応評価 2019/05/02 FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(C0561) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
電子部品
日用品
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
粉体異物の定性分析 2016/02/18 粉体異物の定性分析(C0408) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
[XRD]X線回折法
[XRF]蛍光X線分析法
電子部品
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
故障解析・不良解析
マイクロサンプリングツールを用いた異物分析 2015/03/26 マイクロサンプリングツールを用いた異物分析(C0363) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
[Raman]ラマン分光法
その他
電子部品
照明
ディスプレイ
製造装置・部品
日用品
組成評価・同定
化学結合状態評価
故障解析・不良解析
SiN膜中水素の結合状態別の定量 2013/05/30 SiN膜中水素の結合状態別の定量(C0301) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
LSI・メモリ
化学結合状態評価
シリコン単結晶中の格子間原子濃度の定量 2012/06/21 シリコン単結晶中の格子間原子濃度の定量(C0235) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
LSI・メモリ
太陽電池
化学結合状態評価
白色粉体の複合分析 2011/09/22 白色粉体の複合分析(C0217) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
[XRF]蛍光X線分析法
LSI・メモリ
ディスプレイ
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
熱履歴を考慮した異物の成分同定 2011/08/18 熱履歴を考慮した異物の成分同定(C0200) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
[DSC]示差走査熱量測定
その他
LSI・メモリ
光デバイス
製造装置・部品
化学結合状態評価
プリント基板上有機物系異物の評価 2010/11/25 プリント基板上有機物系異物の評価(C0084) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
電子部品
組成評価・同定
有機ELディスプレイの総合評価 2010/01/01 有機ELディスプレイの総合評価(C0134) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価
膜厚評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
リチウムイオン二次電池材料の総合評価 2010/01/01 リチウムイオン二次電池材料の総合評価(C0124) [XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
[Raman]ラマン分光法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価
膜厚評価
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