有機ELディスプレイの総合評価(C0134)

構造把握・材料評価・劣化原因特定など各種手法を組み合わせて評価します

MST技術資料No.C0134
掲載日2010/01/01
測定法・加工法[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
製品分野照明
ディスプレイ
分析目的組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価
膜厚評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査

概要

有機ELは、自発発光するフレキシブルな次世代ディスプレイ、照明パネルとして期待されておりますが、更なる信頼性の向上が望まれています。各種手法を組み合わせることにより、構造解析や状態分析および劣化原因の特定などの総合評価が可能です。

データ

関連する分析事例

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
二次電池正極表面被膜の組成分析 2020/05/21 二次電池正極表面被膜の組成分析(C0588) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[AES]オージェ電子分光法
[XPS]X線光電子分光法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
製品調査
X線CT・GC/MSによるガラス繊維強化プラスチック(GFRP)の評価 2020/05/06 X線CT・GC/MSによるガラス繊維強化プラスチック(GFRP)の評価(C0582) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
X線CT法
製造装置・部品
バイオテクノロジ
化粧品
日用品
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価 2020/05/06 STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価(C0558) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
計算科学・データ解析
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
二次電池
酸化物半導体
構造評価
TOF-SIMSによる毛髪の評価 2020/05/06 TOF-SIMSによる毛髪の評価(C0507) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
医薬品
化粧品
組成評価・同定
組成分布評価
膜厚評価
TOF-SIMS・LC/MS/MSによる三次元培養ヒト皮膚を用いた経皮吸収評価 2020/05/06 TOF-SIMS・LC/MS/MSによる三次元培養ヒト皮膚を用いた経皮吸収評価(C0495) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
クライオ加工
その他
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
組成分布評価
安全性試験
TOF-SIMSによる繊維の変色原因調査 2020/05/06 TOF-SIMSによる繊維の変色原因調査(C0433) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
化粧品
日用品
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
ウォーターマークの無機・有機同時評価 2020/05/06 ウォーターマークの無機・有機同時評価(C0034) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
部品表面のシミ・水はじきの原因調査 2020/05/06 部品表面のシミ・水はじきの原因調査(C0098) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
電子部品
製造装置・部品
組成評価・同定
TOF-SIMSによるAl表面のOHの分布及び状態評価 2020/05/06 TOF-SIMSによるAl表面のOHの分布及び状態評価(C0262) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
化学結合状態評価
組成分布評価
膜厚評価
キトサンの分布評価 2020/05/06 キトサンの分布評価(C0228) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
医薬品
日用品
食品
組成分布評価

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