有機ELディスプレイの総合評価(C0134)

構造把握・材料評価・劣化原因特定など各種手法を組み合わせて評価します

MST技術資料No.C0134
掲載日2010/01/01
測定法・加工法[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
製品分野照明
ディスプレイ
分析目的組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価
膜厚評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査

概要

有機ELは、自発発光するフレキシブルな次世代ディスプレイ、照明パネルとして期待されておりますが、更なる信頼性の向上が望まれています。各種手法を組み合わせることにより、構造解析や状態分析および劣化原因の特定などの総合評価が可能です。

データ

関連する分析事例

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
毛髪断面の微細構造(S)TEM分析 2021/01/14 毛髪断面の微細構造(S)TEM分析(C0643) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
ウルトラミクロトーム加工
その他
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
組成評価・同定
組成分布評価
形状評価
膜厚評価
ネガティブ染色による(S)TEM観察事例 2021/01/14 ネガティブ染色による(S)TEM観察事例(C0642) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
その他
医薬品
化粧品
日用品
食品
形状評価
製品調査
液体クロマトグラフ-フーリエ変換質量分析法 2021/01/14 液体クロマトグラフ-フーリエ変換質量分析法(B0264) [LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
照明
ディスプレイ
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
食品
環境
化学結合状態評価
安全性試験
デバイスの金属膜中および界面における金属不純物の評価 2020/12/10 デバイスの金属膜中および界面における金属不純物の評価(C0638) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
電子部品
製造装置・部品
酸化物半導体
故障解析・不良解析
製品調査
電子染色を用いた高分子材料の(S)TEM観察 2020/11/26 電子染色を用いた高分子材料の(S)TEM観察(C0640) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
その他
日用品
その他
形状評価
その他
キューティクルのイメージング 2020/10/08 キューティクルのイメージング(C0631) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
組成分布評価
クリームはんだ中フラックスの成分分析 2020/09/03 クリームはんだ中フラックスの成分分析(C0616) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
電子部品
組成評価・同定
製品調査
髪表面の成分18-MEAの評価 2020/08/20 髪表面の成分18-MEAの評価(C0375) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
化粧品
組成評価・同定
組成分布評価
皮膚断面の成分分布評価 2020/08/20 皮膚断面の成分分布評価(C0355) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
組成分布評価
リチウムイオン二次電池負極の充放電サイクル試験後の劣化評価 2020/08/20 リチウムイオン二次電池負極の充放電サイクル試験後の劣化評価(C0194) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
二次電池
組成評価・同定

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