有機ELディスプレイの総合評価(C0134)

構造把握・材料評価・劣化原因特定など各種手法を組み合わせて評価します

MST技術資料No.C0134
掲載日2010/01/01
測定法・加工法[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
製品分野照明
ディスプレイ
分析目的組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価
膜厚評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査

概要

有機ELは、自発発光するフレキシブルな次世代ディスプレイ、照明パネルとして期待されておりますが、更なる信頼性の向上が望まれています。各種手法を組み合わせることにより、構造解析や状態分析および劣化原因の特定などの総合評価が可能です。

データ

関連する分析事例

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
FT-IRによる樹脂の硬化反応評価 2019/05/02 FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(C0561) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
電子部品
日用品
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
製剤中農薬原体のイメージング分析 2019/04/25 製剤中農薬原体のイメージング分析(C0540) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
医薬品
環境
組成評価・同定
組成分布評価
DRAMチップの解析 2019/04/04 DRAMチップの解析(C0542) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
LSI・メモリ
形状評価
構造評価
製品調査
STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価 2019/03/14 STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価(C0558) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
計算科学・データ解析
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
二次電池
酸化物半導体
構造評価
STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した多結晶体の結晶構造解析 2019/03/14 STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した多結晶体の結晶構造解析(C0557) [EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
計算科学・データ解析
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
二次電池
酸化物半導体
構造評価
TOF-SIMSによる毛髪の評価 2019/03/07 TOF-SIMSによる毛髪の評価(C0507) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
医薬品
化粧品
組成評価・同定
組成分布評価
膜厚評価
眼球に投与した薬剤成分の分布評価 2019/02/07 眼球に投与した薬剤成分の分布評価(C0548) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
医薬品
化粧品
組成評価・同定
組成分布評価
CMOSセンサの総合評価 2018/11/29 CMOSセンサの総合評価(C0537) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
光デバイス
電子部品
組成評価・同定
形状評価
構造評価
日用品中のラウリル硫酸塩の分析 2018/03/01 日用品中のラウリル硫酸塩の分析(C0510) [LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
日用品
環境
組成評価・同定
微量濃度評価
製品調査
TOF-SIMSによる歯科インプラントの分析 2018/02/22 TOF-SIMSによる歯科インプラントの分析(C0509) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
医薬品
その他
組成評価・同定
組成分布評価

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