有機ELディスプレイの総合評価(C0134)

構造把握・材料評価・劣化原因特定など各種手法を組み合わせて評価します

概要

有機ELは、自発発光するフレキシブルな次世代ディスプレイ、照明パネルとして期待されておりますが、更なる信頼性の向上が望まれています。各種手法を組み合わせることにより、構造解析や状態分析および劣化原因の特定などの総合評価が可能です。

データ

MST技術資料No.C0134
掲載日2010/01/01
測定法・加工法[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
製品分野照明
ディスプレイ
分析目的組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価
膜厚評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査

関連する分析事例

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
ペロブスカイト太陽電池に用いる有機材料の定性分析 2025/01/30 ペロブスカイト太陽電池に用いる有機材料の定性分析(C0725) [LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
太陽電池
組成評価・同定
ペロブスカイト太陽電池のHTM層の分析 2025/01/30 ペロブスカイト太陽電池のHTM層の分析(C0724) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
太陽電池
組成評価・同定
不純物評価・分布評価
5-ALA(5-アミノレブリン酸)の分析 2024/11/21 5-ALA(5-アミノレブリン酸)の分析(C0723) [LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
食品
組成評価・同定
リグニンの抽出・化学分解・構造解析 2024/09/05 リグニンの抽出・化学分解・構造解析(C0719) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
[NMR]核磁気共鳴分析
高分子材料
バイオテクノロジ
環境
組成評価・同定
化学結合状態評価
構造評価
酸化ガリウムGa2O3イオン注入ダメージ層の評価 2024/08/29 酸化ガリウムGa2O3イオン注入ダメージ層の評価(C0718) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[AFM]原子間力顕微鏡法
[FIB]集束イオンビーム加工
パワーデバイス
酸化物半導体
形状評価
構造評価
無アルカリガラス中の金属不純物の定性と定量評価 2024/07/18 無アルカリガラス中の金属不純物の定性と定量評価(B0303) [SIMS]二次イオン質量分析法
[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
電子部品
製造装置・部品
酸化物半導体
微量濃度評価
不純物評価・分布評価
テープストリッピング法による トラネキサム酸の経皮吸収試験 2024/05/23 テープストリッピング法による トラネキサム酸の経皮吸収試験(C0709) [LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
化粧品
組成評価・同定
セラミックスのぬれ性原因評価 2023/12/28 セラミックスのぬれ性原因評価(C0705) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
製造装置・部品
組成評価・同定
セラミックス表面における洗浄成分の分布評価 2023/12/28 セラミックス表面における洗浄成分の分布評価(C0704) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
製造装置・部品
日用品
その他
化学結合状態評価
組成分布評価
故障解析・不良解析
セラミックスの変色原因評価 2023/12/21 セラミックスの変色原因評価(C0703) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
製造装置・部品
組成分布評価

分析のご相談・お申し込み

知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。
分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。
相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。

webからのお問い合わせはこちら

分析お問い合わせフォーム

お電話からのお問い合わせはこちら

ページトップへ