有機ELディスプレイの総合評価(C0134)

構造把握・材料評価・劣化原因特定など各種手法を組み合わせて評価します

概要

有機ELは、自発発光するフレキシブルな次世代ディスプレイ、照明パネルとして期待されておりますが、更なる信頼性の向上が望まれています。各種手法を組み合わせることにより、構造解析や状態分析および劣化原因の特定などの総合評価が可能です。

データ

MST技術資料No.C0134
掲載日2010/01/01
測定法・加工法[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
製品分野照明
ディスプレイ
分析目的組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価
膜厚評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査

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イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
テープストリッピング法による トラネキサム酸の経皮吸収試験 2024/05/23 テープストリッピング法による トラネキサム酸の経皮吸収試験(C0709) [LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
化粧品
組成評価・同定
セラミックスのぬれ性原因評価 2023/12/28 セラミックスのぬれ性原因評価(C0705) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
製造装置・部品
組成評価・同定
セラミックス表面における洗浄成分の分布評価 2023/12/28 セラミックス表面における洗浄成分の分布評価(C0704) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
製造装置・部品
日用品
その他
化学結合状態評価
組成分布評価
故障解析・不良解析
セラミックスの変色原因評価 2023/12/21 セラミックスの変色原因評価(C0703) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
製造装置・部品
組成分布評価
ノーマリーオフ型GaN HEMT二次元電子ガス層評価 2023/11/30 ノーマリーオフ型GaN HEMT二次元電子ガス層評価(C0702) [SIMS]二次イオン質量分析法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[SCM]走査型静電容量顕微鏡法・[SNDM]走査型非線形誘電率顕微鏡法
[SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法
パワーデバイス
微量濃度評価
形状評価
構造評価
製品調査
撥水箇所の成分分析 2023/02/02 撥水箇所の成分分析(C0686) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
電子部品
照明
ディスプレイ
製造装置・部品
酸化物半導体
高分子材料
日用品
組成分布評価
不純物評価・分布評価
光ファイバーのコアとクラッドの定性評価 2023/01/26 光ファイバーのコアとクラッドの定性評価(C0685) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
その他
電子部品
高分子材料
その他
組成分布評価
不純物評価・分布評価
その他
果物によるグルコシルセラミドの違いを調査 2022/12/22 果物によるグルコシルセラミドの違いを調査(C0683) [HPLC]高速液体クロマトグラフ法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
その他
化粧品
日用品
食品
その他
ジンセノサイド(Ginsenoside)の分析 2022/12/15 ジンセノサイド(Ginsenoside)の分析(C0681) [LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
食品
組成評価・同定
剥離原因となる金属界面の有機物評価 2022/11/10 剥離原因となる金属界面の有機物評価(B0285) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
電子部品
製造装置・部品
酸化物半導体
故障解析・不良解析
不純物評価・分布評価

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