分析事例

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分析事例一覧

掲載日	タイトル	測定法・加工法	製品分野	分析目的
2021/09/02	二次電池正極の結合状態評価(C0659)	［XPS］X線光電子分光法 [HAXPES]硬X線光電子分光法雰囲気制御下での処理	二次電池	化学結合状態評価製品調査
2021/08/12	二次電池セパレータの構造評価(C0604)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［XPS］X線光電子分光法［SEM］走査電子顕微鏡法［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）［FT-IR］フーリエ変換赤外分光法［XRD］X線回折法［TG-DTA-MS］示差熱天秤-質量分析法［IP法］Arイオン研磨加工雰囲気制御下での処理	二次電池	組成評価・同定化学結合状態評価組成分布評価形状評価構造評価製品調査
2021/02/11	二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価(C0645)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［XPS］X線光電子分光法［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法雰囲気制御下での処理	二次電池	化学結合状態評価組成分布評価形状評価膜厚評価構造評価製品調査
2020/08/20	リチウムイオン二次電池負極の充放電サイクル試験後の劣化評価(C0194)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法雰囲気制御下での処理	二次電池	組成評価・同定
2020/04/30	有機EL材料(OLED)のTOF-SIMSによるRGB素子深さ方向分析(C0243)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法雰囲気制御下での処理	照明ディスプレイ	化学結合状態評価組成分布評価劣化調査・信頼性評価製品調査
2015/12/03	有機EL素子の層構造評価(C0088)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法雰囲気制御下での処理	ディスプレイ	組成評価・同定
2015/12/03	有機EL発光層の成分分析(C0112)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法雰囲気制御下での処理	ディスプレイ	組成評価・同定
2012/11/08	リチウムイオン二次電池　電極材料の評価(C0272)	［SEM］走査電子顕微鏡法［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）［IP法］Arイオン研磨加工雰囲気制御下での処理	二次電池	組成評価・同定形状評価劣化調査・信頼性評価製品調査
2012/11/08	リチウムイオン二次電池　Si負極の評価(C0257)	［SEM］走査電子顕微鏡法［FIB］集束イオンビーム加工雰囲気制御下での処理クライオ加工	二次電池	形状評価劣化調査・信頼性評価
2012/07/05	高温XRDによる熱分解生成物の同定(C0239)	［XRD］X線回折法雰囲気制御下での処理	LSI・メモリ電子部品酸化物半導体医薬品化粧品	構造評価
2012/06/07	GCIB（Arクラスター）を用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析(C0241)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法雰囲気制御下での処理	照明ディスプレイ	組成評価・同定組成分布評価劣化調査・信頼性評価製品調査
2011/11/17	リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験(C0223)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［LC/MS］液体クロマトグラフィー質量分析法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［FIB］集束イオンビーム加工雰囲気制御下での処理その他	二次電池	組成評価・同定化学結合状態評価膜厚評価劣化調査・信頼性評価
2011/06/09	雰囲気制御&冷却下でのTEM分析(B0156)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法雰囲気制御下での処理クライオ加工	二次電池バイオテクノロジ化粧品日用品	形状評価製品調査
2011/06/09	雰囲気制御&冷却下でのSEM分析(B0159)	［SEM］走査電子顕微鏡法雰囲気制御下での処理クライオ加工	二次電池バイオテクノロジ化粧品日用品	形状評価製品調査
2011/02/17	劣化の激しい有機材料の状態評価(C0186)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法雰囲気制御下での処理	照明ディスプレイ	組成評価・同定故障解析・不良解析劣化調査・信頼性評価製品調査
2010/11/11	リチウムイオン二次電池負極の劣化評価(C0193)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法雰囲気制御下での処理	二次電池	組成評価・同定組成分布評価
2010/01/01	高純度雰囲気下での前処理・測定(B0110)	［XPS］X線光電子分光法雰囲気制御下での処理	LSI・メモリ電子部品二次電池ディスプレイ	化学結合状態評価膜厚評価
2010/01/01	有機薄膜太陽電池の活性層の組成分布評価(C0159)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法雰囲気制御下での処理	太陽電池	組成評価・同定組成分布評価
2010/01/01	有機EL素子の電極/有機層界面の状態評価(C0094)	［XPS］X線光電子分光法雰囲気制御下での処理	ディスプレイ	化学結合状態評価
2010/01/01	有機EL素子Alq3層/発光層界面の評価(C0131)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法雰囲気制御下での処理	ディスプレイ	組成分布評価
2010/01/01	燃料電池の固体高分子電解質膜の評価(C0143)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［XPS］X線光電子分光法雰囲気制御下での処理	燃料電池	組成評価・同定化学結合状態評価
2010/01/01	有機薄膜太陽電池電極界面の状態評価および有機膜の分散状態評価(C0177)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［AES］オージェ電子分光法［XPS］X線光電子分光法雰囲気制御下での処理	太陽電池	化学結合状態評価組成分布評価
2010/01/01	有機EL素子の層構造評価(C0087)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法雰囲気制御下での処理	ディスプレイ	組成評価・同定組成分布評価