有機EL発光層の成分分析(C0112)

雰囲気を保ったまま解体・前処理から装置導入まで可能

概要

有機EL材料は空気に触れると変質することが知られています。雰囲気制御下と大気中に放置した発光材料表面についてTOF-SIMSから得られた結果を紹介します。雰囲気制御下で作製したサンプルでは親イオンが主として検出されますが、空気中に放置すると親イオンに酸素がついたフラグメントが検出されています。変質しやすい原料については大気にさらさず分析することが必要です。

データ

MST技術資料No.C0112
掲載日2015/12/03
測定法・加工法[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
製品分野ディスプレイ
分析目的組成評価・同定

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