有機薄膜太陽電池電極界面の状態評価および有機膜の分散状態評価(C0177)

雰囲気の影響を最小限に抑えた総合的な評価解析が可能です

概要

有機デバイスは酸素や水に影響されやすい材料を使用したデバイスです。MSTでは雰囲気の影響を最小限に抑えたサンプル搬送・加工方法・測定環境を整え分析を行っており、より真に近い状態評価が可能です。XPS分析で有機膜と電極の界面の状態評価を評価しました。有機膜表面に存在するチタニアの組成、結合状態を確認できます。TOF-SIMS分析でバルク・へテロ構造有機薄膜太陽電池の有機膜中のP3HT(p型有機半導体)とPCBM(n型有機半導体)の分散状態を深さ方向で確認しました。

データ

■バルクへテロ構造有機薄膜太陽電池模式図

MST技術資料No.C0177
掲載日2010/01/01
測定法・加工法[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[AES]オージェ電子分光法
[XPS]X線光電子分光法
雰囲気制御下での処理
製品分野太陽電池
分析目的化学結合状態評価
組成分布評価

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