分析事例

測定法・加工法

製品分野

分析目的

フリーワード

上記の内容で検索検索条件をクリア

分析事例一覧

掲載日	タイトル	測定法・加工法	製品分野	分析目的
2022/12/22	XRDを用いた負荷印加前後における金属材の残留応力測定(C0682)	［XRD］X線回折法	電子部品製造装置・部品	構造評価応力・歪み評価故障解析・不良解析劣化調査・信頼性評価製品調査
2022/07/07	X線回折・散乱技術を用いた高分子材料の階層構造評価(C0673)	［XRD］X線回折法［SAXS］X線小角散乱法	バイオテクノロジ医薬品化粧品日用品食品	構造評価製品調査
2022/01/20	リートベルト解析（Rietveld analysis）とは(B0277)	［XRD］X線回折法計算科学・AI・データ解析	パワーデバイス二次電池酸化物半導体医薬品化粧品	化学結合状態評価構造評価応力・歪み評価
2021/08/12	二次電池セパレータの構造評価(C0604)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［XPS］X線光電子分光法［SEM］走査電子顕微鏡法［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）［FT-IR］フーリエ変換赤外分光法［XRD］X線回折法［TG-DTA-MS］示差熱天秤-質量分析法［IP法］Arイオン研磨加工雰囲気制御下での処理	二次電池	組成評価・同定化学結合状態評価組成分布評価形状評価構造評価製品調査
2020/07/09	二次電池正極活物質の総合評価(C0607)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［ICP-MS］誘導結合プラズマ質量分析法［SEM］走査電子顕微鏡法［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）［EBSD］電子後方散乱回折法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［XRD］X線回折法［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法	二次電池	組成評価・同定化学結合状態評価組成分布評価形状評価構造評価製品調査
2020/06/11	二次電池正極活物質の劣化評価(C0593)	［SEM］走査電子顕微鏡法［Raman］ラマン分光法［XRD］X線回折法	二次電池	組成評価・同定組成分布評価形状評価構造評価製品調査
2020/05/21	二次電池正極材料のリートベルト解析(C0589)	［ICP-MS］誘導結合プラズマ質量分析法［XRD］X線回折法計算科学・AI・データ解析	二次電池	組成評価・同定構造評価製品調査
2020/05/06	高温XRDによる金属膜の評価(C0270)	［XRD］X線回折法	LSI・メモリ太陽電池酸化物半導体	構造評価
2020/04/30	リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化(C0577)	［XRD］X線回折法計算科学・AI・データ解析	二次電池ディスプレイバイオテクノロジ医薬品化粧品	構造評価
2017/07/13	医薬品の結晶多形評価(C0473)	［XRD］X線回折法	医薬品	組成評価・同定構造評価
2016/11/10	HfZrOx膜の結晶構造同定・含有割合の算出(C0447)	［XAFS］X線吸収微細構造［XRD］X線回折法	LSI・メモリ	構造評価
2016/02/18	粉体異物の定性分析(C0408)	［FT-IR］フーリエ変換赤外分光法［XRD］X線回折法［XRF］蛍光X線分析法	電子部品製造装置・部品	組成評価・同定化学結合状態評価故障解析・不良解析
2015/08/13	2次元検出器を用いたX線回折測定(B0212)	［XRD］X線回折法	LSI・メモリ酸化物半導体	構造評価
2015/08/13	極点測定(B0213)	［XRD］X線回折法	LSI・メモリ	構造評価
2015/06/25	XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価(C0384)	［SEM］走査電子顕微鏡法［EBSD］電子後方散乱回折法［XRD］X線回折法	パワーデバイス	形状評価構造評価
2013/07/04	X線によるZn系バッファ層の複合評価(C0282)	［XPS］X線光電子分光法［XRD］X線回折法［XRR］X線反射率法その他	太陽電池酸化物半導体	組成評価・同定化学結合状態評価膜厚評価構造評価
2012/12/27	IGZO　薄膜の結晶性・膜密度評価(C0283)	［XRD］X線回折法［XRR］X線反射率法	LSI・メモリディスプレイ酸化物半導体	膜厚評価構造評価熱物性評価
2012/12/13	SiC基板の品質評価(C0280)	［SIMS］二次イオン質量分析法［XRD］X線回折法［AFM］原子間力顕微鏡法［PL］フォトルミネッセンス法	パワーデバイス照明	微量濃度評価形状評価構造評価故障解析・不良解析
2012/07/05	高分子材料の結晶化度評価(C0245)	［XRD］X線回折法	日用品	構造評価熱物性評価劣化調査・信頼性評価
2012/07/05	高温XRDによる熱分解生成物の同定(C0239)	［XRD］X線回折法雰囲気制御下での処理	LSI・メモリ電子部品酸化物半導体医薬品化粧品	構造評価
2012/07/05	微小部XRD分析による結晶構造評価(C0246)	［XRD］X線回折法［XRF］蛍光X線分析法	LSI・メモリ電子部品	組成評価・同定構造評価