分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化 2019/10/03 リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化(C0577) [XRD]X線回折法
計算科学・データ解析
二次電池
ディスプレイ
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
構造評価
医薬品の結晶多形評価 2017/07/13 医薬品の結晶多形評価(C0473) [XRD]X線回折法
医薬品
組成評価・同定
構造評価
HfZrOx膜の結晶構造同定・含有割合の算出 2016/11/10 HfZrOx膜の結晶構造同定・含有割合の算出(C0447) [XAFS]X線吸収微細構造
[XRD]X線回折法
LSI・メモリ
構造評価
粉体異物の定性分析 2016/02/18 粉体異物の定性分析(C0408) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
[XRD]X線回折法
[XRF]蛍光X線分析法
電子部品
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
故障解析・不良解析
2次元検出器を用いたX線回折測定 2015/08/13 2次元検出器を用いたX線回折測定(B0212) [XRD]X線回折法
LSI・メモリ
酸化物半導体
構造評価
極点測定 2015/08/13 極点測定(B0213) [XRD]X線回折法
LSI・メモリ
構造評価
XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価 2015/06/25 XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価(C0384) [SEM]走査電子顕微鏡法
[EBSD]電子後方散乱回折法
[XRD]X線回折法
パワーデバイス
形状評価
構造評価
X線によるZn系バッファ層の複合評価 2013/07/04 X線によるZn系バッファ層の複合評価(C0282) [XPS]X線光電子分光法
[XRD]X線回折法
[XRR]X線反射率法
その他
太陽電池
酸化物半導体
組成評価・同定
化学結合状態評価
膜厚評価
構造評価
金属膜の高温XRD評価 2013/06/13 金属膜の高温XRD評価(C0270) [XRD]X線回折法
LSI・メモリ
太陽電池
酸化物半導体
構造評価
IGZO 薄膜の結晶性・膜密度評価 2012/12/27 IGZO 薄膜の結晶性・膜密度評価(C0283) [XRD]X線回折法
[XRR]X線反射率法
LSI・メモリ
ディスプレイ
酸化物半導体
膜厚評価
構造評価
熱物性評価
SiC基板の品質評価 2012/12/13 SiC基板の品質評価(C0280) [SIMS]二次イオン質量分析法
[XRD]X線回折法
[AFM]原子間力顕微鏡法
[PL]フォトルミネッセンス法
パワーデバイス
照明
微量濃度評価
形状評価
構造評価
故障解析・不良解析
高分子材料の結晶化度評価 2012/07/05 高分子材料の結晶化度評価(C0245) [XRD]X線回折法
日用品
構造評価
熱物性評価
劣化調査・信頼性評価
高温XRDによる熱分解生成物の同定 2012/07/05 高温XRDによる熱分解生成物の同定(C0239) [XRD]X線回折法
雰囲気制御下での処理
LSI・メモリ
電子部品
酸化物半導体
医薬品
化粧品
構造評価
微小部XRD分析による結晶構造評価 2012/07/05 微小部XRD分析による結晶構造評価(C0246) [XRD]X線回折法
[XRF]蛍光X線分析法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
構造評価
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