X線回折・散乱技術を用いた高分子材料の階層構造評価(C0673)
SAXSとXRD (WAXS) を組み合わせることでラメラ等の構造解析が可能です
概要
ラメラやミセルなどの構成要素である両親媒性物質は、化粧品・医薬品等の分野で広く用いられている材料です。この両親媒性物質が造り出す高次構造の違いにより皮膚組織に対する保湿性や浸透性が変化することが知られており、これらの構造を把握することは材料の機能性を評価する上で重要となります。
本資料では～数nmの構造にはXRD (X線回折法)を、～数十nmの構造にはSAXS (X線小角散乱法)を用いて、高分子の階層構造を評価した事例を紹介します。WAXS (X線広角散乱法)でも同様の評価が可能です。
データ
SAXSよる液晶型由来の回折(散乱) とXRDによる分子配列由来の回折を相補的に解析することで、
Å～数十nmオーダーにおける高分子の階層構造情報を得ることができました。
