[SAXS]X線小角散乱法

SAXS:Small Angle X-ray Scattering

装置外観

特徴

SAXSは、X線を物質に照射して散乱したX線のうち、2θ<10°以下の低角領域に現れるものを測定し、物質の構造を評価する分析手法です。通常、数nm~数十nm程度の大きさの構造を評価できます。

  • ナノスケールでの周期構造・配向性の評価が可能
  • 微粒子や材料中の空孔分布を評価することが可能
  • タンパク質など生体材料の評価が可能
  • サンプルを加熱して評価することが可能

適用例

  • 高分子材料の結晶性・配向性評価
  • 液晶試料の高次構造・ミクロ相分離構造解析
  • ポリスチレンナノ粒子の粒径解析
  • 高分子のドメインサイズ評価

原理

周期構造による散乱

周期構造による散乱では、(1)のようなプロファイルが得られます。構造単位の周期性がピークとして現れます。低角領域の散乱X線を見ることで、数nm~数十nm程度の分子レベルの周期構造まで測定することができます。

周期構造による散乱

粒子内部における散乱

粒子内部における散乱では、(2)のようなプロファイルが得られます。プロファイルの傾きは粒子(空孔)の大きさを反映しており、形状は粒子の形状や粒径分布を反映します。

粒子内部における散乱

広角に散乱されたX線⇒Åオーダーの結晶の面間隔・歪み・配向性を評価
低角に散乱されたX線⇒ナノオーダーの分子の周期性・配向性を評価

データ例

配向性評価: PTFEテープの延伸による配向性評価

配向性評価: PTFEテープの延伸による配向性評価

構造評価: 乳化剤の液晶構造評価

構造評価: 乳化剤の液晶構造評価

データ形式

  • PDFファイル: スペクトル・解析データ

仕様

搬入可能試料サイズ 5mm×5mm~10mm×30mm 程度まで、厚み10mm 以下
測定領域 1mmφ程度(光学系による)
試料必要量 粉体の場合0.5g 程度、液体の場合0.5mL程度
測定可能な周期長および粒径 1nm ~ 90nm 程度(測定方法・光学系による)

必要情報

  1. 分析目的
  2. 試料数・形状・組成・切断可否・予備試料の有無
  3. 試料構造・試料の厚さ
  4. 試料到着日
  5. ご希望納期

注意点

  • 空孔測定の場合は空孔が無い参照サンプルをご準備ください。
  • 溶液試料の場合は溶媒を参照サンプルとしてご準備ください。

[SAXS]X線小角散乱法の分析事例はこちらからご覧ください。

分析のご相談・お申し込み

知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。
分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。
相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。

webからのお問い合わせはこちら

お問い合わせフォーム

お電話からのお問い合わせはこちら

ページトップへ

てむぞう&ますみん

てむぞう&ますみん