分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
量子化学計算から分かること 2020/06/25 量子化学計算から分かること(B0257) 計算科学・データ解析
照明
ディスプレイ
医薬品
化粧品
日用品
食品
環境
化学結合状態評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
液晶ディスプレイの劣化分析 2020/06/25 液晶ディスプレイの劣化分析(C0601) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[IC]イオンクロマトグラフ法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[AFM]原子間力顕微鏡法
[SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法
計算科学・データ解析
ディスプレイ
微量濃度評価
化学結合状態評価
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察 2020/05/06 液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察(C0508) [AFM]原子間力顕微鏡法
電子部品
ディスプレイ
製造装置・部品
医薬品
日用品
形状評価
リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化 2020/04/30 リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化(C0577) [XRD]X線回折法
計算科学・データ解析
二次電池
ディスプレイ
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
構造評価
TOF-SIMS・LC/MSによる有機EL(OLED)の構造評価 2020/04/30 TOF-SIMS・LC/MSによる有機EL(OLED)の構造評価(C0490) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価
膜厚評価
故障解析・不良解析
製品調査
TEM・SEMによる有機EL(OLED)・ゲート酸化膜の断面観察 2020/04/30 TEM・SEMによる有機EL(OLED)・ゲート酸化膜の断面観察(C0090) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
LSI・メモリ
太陽電池
照明
ディスプレイ
形状評価
膜厚評価
TOF-SIMSによる有機EL材料(OLED)のRGB素子深さ方向分析 2020/04/30 TOF-SIMSによる有機EL材料(OLED)のRGB素子深さ方向分析(C0243) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
照明
ディスプレイ
化学結合状態評価
組成分布評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
TOF-SIMSによる有機EL(OLED)発光層の解析 2020/01/16 TOF-SIMSによる有機EL(OLED)発光層の解析(C0033) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
ディスプレイ
組成評価・同定
膜厚評価
真空中での有機成分の脱離評価 2019/05/30 真空中での有機成分の脱離評価(C0566) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
二次電池
ディスプレイ
微量濃度評価
その他
TDSによるグラフェンの脱ガス分析 2019/02/21 TDSによるグラフェンの脱ガス分析(C0553) [TDS]昇温脱離ガス分析法
太陽電池
二次電池
ディスプレイ
その他
微量濃度評価
その他
スマートフォン用保護フィルムのAFM分析 2019/01/17 スマートフォン用保護フィルムのAFM分析(C0533) [AFM]原子間力顕微鏡法
ディスプレイ
日用品
形状評価
グラフェンの官能基の評価 2018/11/08 グラフェンの官能基の評価(C0520) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
電子部品
二次電池
ディスプレイ
化学結合状態評価
クリーンルーム内有機化合物の評価方法 2018/08/23 クリーンルーム内有機化合物の評価方法(B0245) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
太陽電池
ディスプレイ
酸化物半導体
微量濃度評価
界面および深さ方向分解能について 2018/07/05 界面および深さ方向分解能について(B0243) [SIMS]二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
太陽電池
ディスプレイ
酸化物半導体
微量濃度評価
TDSによる有機膜の熱処理温度依存性評価 2017/12/21 TDSによる有機膜の熱処理温度依存性評価(C0499) [TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
その他
TDSによるレジスト膜の脱ガス評価 2017/12/21 TDSによるレジスト膜の脱ガス評価(C0498) [TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
その他
GPCによる分子量分布測定 2017/09/21 GPCによる分子量分布測定(B0239) [HPLC]高速液体クロマトグラフ法
ディスプレイ
製造装置・部品
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
食品
劣化調査・信頼性評価
製品調査
代表的な材料・目的別のTDS解析例 2017/03/30 代表的な材料・目的別のTDS解析例(B0232) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
ディスプレイ
製造装置・部品
酸化物半導体
微量濃度評価
その他
石英・ガラス中の「水」の評価 2017/02/16 石英・ガラス中の「水」の評価(C0460) [SIMS]二次イオン質量分析法
その他
電子部品
ディスプレイ
微量濃度評価
劣化調査・信頼性評価
有機フィルムの昇温脱離ガス分析(TDS) 2016/12/08 有機フィルムの昇温脱離ガス分析(TDS)(C0452) [TDS]昇温脱離ガス分析法
ディスプレイ
日用品
組成評価・同定
微量濃度評価
ガラス試料のTDS分析 2016/12/01 ガラス試料のTDS分析(C0378) [TDS]昇温脱離ガス分析法
ディスプレイ
微量濃度評価
その他
エポキシ樹脂の構造解析 2016/11/17 エポキシ樹脂の構造解析(C0448) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
製品調査
XAFSによるシリコン酸化膜評価 2016/10/06 XAFSによるシリコン酸化膜評価(C0439) [XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
二次電池
ディスプレイ
酸化物半導体
化学結合状態評価
構造評価
MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)について 2016/03/10 MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)について(B0221) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析 2016/03/10 MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析(C0413) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの評価 2016/02/25 MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの評価(C0411) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
有機EL素子の層構造評価 2015/12/03 有機EL素子の層構造評価(C0088) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
ディスプレイ
組成評価・同定
有機EL発光層の成分分析 2015/12/03 有機EL発光層の成分分析(C0112) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
ディスプレイ
組成評価・同定
有機EL素子の劣化評価 2015/12/03 有機EL素子の劣化評価(C0132) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
ディスプレイ
組成評価・同定
化学結合状態評価
製品調査
有機膜材料の配向角評価 2015/08/20 有機膜材料の配向角評価(B0215) [XAFS]X線吸収微細構造
電子部品
太陽電池
照明
ディスプレイ
日用品
化学結合状態評価
構造評価

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