分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
キューティクルのイメージング 2020/10/08 キューティクルのイメージング(C0631) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
組成分布評価
髪表面の成分18-MEAの評価 2020/08/20 髪表面の成分18-MEAの評価(C0375) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
化粧品
組成評価・同定
組成分布評価
皮膚断面の成分分布評価 2020/08/20 皮膚断面の成分分布評価(C0355) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
組成分布評価
リチウムイオン二次電池負極の充放電サイクル試験後の劣化評価 2020/08/20 リチウムイオン二次電池負極の充放電サイクル試験後の劣化評価(C0194) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
二次電池
組成評価・同定
錠剤における薬効成分の分布評価 2020/08/20 錠剤における薬効成分の分布評価(C0190) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
医薬品
組成評価・同定
組成分布評価
二次電池正極活物質の総合評価 2020/07/09 二次電池正極活物質の総合評価(C0607) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[XRD]X線回折法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
二次電池正極の抵抗値およびLiの分布評価 2020/07/09 二次電池正極の抵抗値およびLiの分布評価(C0606) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
[IP法]Arイオン研磨加工
二次電池
組成分布評価
形状評価
製品調査
二次電池セパレータの構造評価 2020/07/09 二次電池セパレータの構造評価(C0604) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
斜め加工を用いたMLCCの不純物評価 MLCC:multi-layer ceramic capacitor 2020/06/25 斜め加工を用いたMLCCの不純物評価 MLCC:multi-layer ceramic capacitor (C0608) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[IP法]Arイオン研磨加工
電子部品
不純物評価・分布評価
液晶ディスプレイの劣化分析 2020/06/25 液晶ディスプレイの劣化分析(C0601) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[IC]イオンクロマトグラフ法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[AFM]原子間力顕微鏡法
[SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法
計算科学・データ解析
ディスプレイ
微量濃度評価
化学結合状態評価
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
抗菌コート表面の抗菌剤のイメージング分析 2020/06/18 抗菌コート表面の抗菌剤のイメージング分析(C0597) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
日用品
ウイルス対策関連品
微量濃度評価
組成分布評価
製品調査
二次電池電解液の組成評価 2020/06/11 二次電池電解液の組成評価(C0595) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
二次電池
組成評価・同定
微量濃度評価
化学結合状態評価
製品調査
二次電池正極・負極バインダの成分評価 2020/06/11 二次電池正極・負極バインダの成分評価(C0594) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
二次電池
化学結合状態評価
製品調査
二次電池正極表面被膜の組成分析 2020/05/21 二次電池正極表面被膜の組成分析(C0588) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[AES]オージェ電子分光法
[XPS]X線光電子分光法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
製品調査
X線CT・GC/MSによるガラス繊維強化プラスチック(GFRP)の評価 2020/05/06 X線CT・GC/MSによるガラス繊維強化プラスチック(GFRP)の評価(C0582) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
X線CT法
製造装置・部品
バイオテクノロジ
化粧品
日用品
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
TOF-SIMSによる毛髪の評価 2020/05/06 TOF-SIMSによる毛髪の評価(C0507) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
医薬品
化粧品
組成評価・同定
組成分布評価
膜厚評価
TOF-SIMS・LC/MS/MSによる三次元培養ヒト皮膚を用いた経皮吸収評価 2020/05/06 TOF-SIMS・LC/MS/MSによる三次元培養ヒト皮膚を用いた経皮吸収評価(C0495) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
クライオ加工
その他
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
組成分布評価
安全性試験
TOF-SIMSによる繊維の変色原因調査 2020/05/06 TOF-SIMSによる繊維の変色原因調査(C0433) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
化粧品
日用品
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
ウォーターマークの無機・有機同時評価 2020/05/06 ウォーターマークの無機・有機同時評価(C0034) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
部品表面のシミ・水はじきの原因調査 2020/05/06 部品表面のシミ・水はじきの原因調査(C0098) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
電子部品
製造装置・部品
組成評価・同定
TOF-SIMSによるAl表面のOHの分布及び状態評価 2020/05/06 TOF-SIMSによるAl表面のOHの分布及び状態評価(C0262) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
化学結合状態評価
組成分布評価
膜厚評価
キトサンの分布評価 2020/05/06 キトサンの分布評価(C0228) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
医薬品
日用品
食品
組成分布評価
TOF-SIMS・XPSによるプラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査 2020/05/06 TOF-SIMS・XPSによるプラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査(C0231) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
電子部品
医薬品
日用品
その他
組成評価・同定
化学結合状態評価
製品調査
TOF-SIMSによるSiウエハの保管状態による表面汚染評価 2020/05/06 TOF-SIMSによるSiウエハの保管状態による表面汚染評価(C0120) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
フッ素系潤滑剤・高分子の同定 2020/05/06 フッ素系潤滑剤・高分子の同定(C0099) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
電子部品
製造装置・部品
組成評価・同定
TOF-SIMSによるステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価 2020/05/06 TOF-SIMSによるステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価(C0263) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
製造装置・部品
化学結合状態評価
組成分布評価
膜厚評価
TOF-SIMSによるポリカーボネートの劣化層の評価 2020/05/06 TOF-SIMSによるポリカーボネートの劣化層の評価(C0368) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
電子部品
太陽電池
日用品
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
TOF-SIMSによる錠剤タイプ頭痛薬の組成分布評価 2020/05/06 TOF-SIMSによる錠剤タイプ頭痛薬の組成分布評価(C0417) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
バイオテクノロジ
医薬品
組成評価・同定
組成分布評価
アルミホイル表面の成分分析 2020/05/06 アルミホイル表面の成分分析(C0155) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
日用品
食品
組成評価・同定
TOF-SIMSによるニッケルめっき剥離面の評価 2020/05/06 TOF-SIMSによるニッケルめっき剥離面の評価(C0404) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
その他
LSI・メモリ
化学結合状態評価
組成分布評価
故障解析・不良解析

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