分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
XPSによるSn表面の状態評価 2020/07/02 XPSによるSn表面の状態評価(C0603) [XPS]X線光電子分光法
電子部品
酸化物半導体
化学結合状態評価
その他
斜め加工を用いたMLCCの不純物評価 MLCC:multi-layer ceramic capacitor 2020/06/25 斜め加工を用いたMLCCの不純物評価 MLCC:multi-layer ceramic capacitor (C0608) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[IP法]Arイオン研磨加工
電子部品
不純物評価・分布評価
XPSによる広域定量マッピング 2020/06/25 XPSによる広域定量マッピング(C0600) [XPS]X線光電子分光法
電子部品
製造装置・部品
日用品
組成分布評価
XPSによる結合状態マッピング 2020/06/04 XPSによる結合状態マッピング(C0592) [XPS]X線光電子分光法
電子部品
製造装置・部品
日用品
化学結合状態評価
単結晶Si表面のダメージ評価 2020/06/04 単結晶Si表面のダメージ評価(C0549) [XPS]X線光電子分光法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
膜厚評価
構造評価
ガスクロマトグラフ-飛行時間型質量分析計 2020/05/13 ガスクロマトグラフ-飛行時間型質量分析計(B0253) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
電子部品
製造装置・部品
日用品
組成評価・同定
GC/MSによる発生ガス濃縮装置を用いたアウトガス分析 2020/05/06 GC/MSによる発生ガス濃縮装置を用いたアウトガス分析(B0241) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
電子部品
製造装置・部品
日用品
組成評価・同定
液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察 2020/05/06 液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察(C0508) [AFM]原子間力顕微鏡法
電子部品
ディスプレイ
製造装置・部品
医薬品
日用品
形状評価
炭素材料のラマンマッピング 2020/05/06 炭素材料のラマンマッピング(C0489) [Raman]ラマン分光法
電子部品
二次電池
製造装置・部品
医薬品
組成分布評価
構造評価
低温顕微PL分析によるSi系IGBTチップ断面の評価 2020/05/06 低温顕微PL分析によるSi系IGBTチップ断面の評価(C0485) [PL]フォトルミネッセンス法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
低温PL・SIMS分析によるSi基板に含まれる格子間型炭素の評価 2020/05/06 低温PL・SIMS分析によるSi基板に含まれる格子間型炭素の評価(C0481) [SIMS]二次イオン質量分析法
[PL]フォトルミネッセンス法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
微量濃度評価
構造評価
故障解析・不良解析
AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価 2020/05/06 AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価(C0451) [AES]オージェ電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
LSI・メモリ
電子部品
製造装置・部品
組成評価・同定
組成分布評価
ウォーターマークの無機・有機同時評価 2020/05/06 ウォーターマークの無機・有機同時評価(C0034) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
部品表面のシミ・水はじきの原因調査 2020/05/06 部品表面のシミ・水はじきの原因調査(C0098) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
電子部品
製造装置・部品
組成評価・同定
XPSによるCu表面の酸化状態の定量 2020/05/06 XPSによるCu表面の酸化状態の定量(C0047) [XPS]X線光電子分光法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
TOF-SIMS・XPSによるプラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査 2020/05/06 TOF-SIMS・XPSによるプラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査(C0231) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
電子部品
医薬品
日用品
その他
組成評価・同定
化学結合状態評価
製品調査
TOF-SIMSによるSiウエハの保管状態による表面汚染評価 2020/05/06 TOF-SIMSによるSiウエハの保管状態による表面汚染評価(C0120) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
フッ素系潤滑剤・高分子の同定 2020/05/06 フッ素系潤滑剤・高分子の同定(C0099) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
電子部品
製造装置・部品
組成評価・同定
TOF-SIMSによるポリカーボネートの劣化層の評価 2020/05/06 TOF-SIMSによるポリカーボネートの劣化層の評価(C0368) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
電子部品
太陽電池
日用品
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
XPS・AESによる深さ方向分析の比較 2020/05/06 XPS・AESによる深さ方向分析の比較(B0211) [AES]オージェ電子分光法
[XPS]X線光電子分光法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
SRAによるIGBTチップのキャリア濃度分布評価 2020/04/30 SRAによるIGBTチップのキャリア濃度分布評価(C0443) [SIMS]二次イオン質量分析法
[SRA]広がり抵抗測定法
パワーデバイス
電子部品
微量濃度評価
製品調査
UV硬化樹脂の組成解析 2019/12/19 UV硬化樹脂の組成解析(C0580) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
電子部品
日用品
組成評価・同定
製品調査
XPSによるポリイミドの評価 2019/11/28 XPSによるポリイミドの評価(C0579) [XPS]X線光電子分光法
電子部品
日用品
組成評価・同定
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
電子デバイス内特異箇所の複合解析 2019/08/29 電子デバイス内特異箇所の複合解析(C0572) [SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
X線CT法
[FIB]集束イオンビーム加工
電子部品
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(3) 2019/07/25 FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(3)(C0571) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
電子部品
日用品
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(2) 2019/07/25 FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(2)(C0570) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
電子部品
日用品
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
TDSによる銅板・はんだの同時加熱分析 2019/07/04 TDSによる銅板・はんだの同時加熱分析(C0569) [TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
製造装置・部品
故障解析・不良解析
その他
真空中での有機成分の脱離評価 2019/05/30 真空中での有機成分の脱離評価(C0566) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
二次電池
ディスプレイ
微量濃度評価
その他
FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(1) 2019/05/02 FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(1)(C0561) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
電子部品
日用品
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
トランジスタ内部の状態評価 2019/04/25 トランジスタ内部の状態評価(C0563) X線CT法
電子部品
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査

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