分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(3) 2019/07/25 FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(3)(C0571) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
電子部品
日用品
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(2) 2019/07/25 FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(2)(C0570) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
電子部品
日用品
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
TDSによる銅板・はんだの同時加熱分析 2019/07/04 TDSによる銅板・はんだの同時加熱分析(C0569) [TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
製造装置・部品
故障解析・不良解析
その他
真空中での有機成分の脱離評価 2019/05/30 真空中での有機成分の脱離評価(C0566) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
二次電池
ディスプレイ
微量濃度評価
その他
FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(1) 2019/05/02 FT-IRによる樹脂の硬化反応評価(1)(C0561) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
電子部品
日用品
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
トランジスタ内部の状態評価 2019/04/25 トランジスタ内部の状態評価(C0563) X線CT法
電子部品
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価 2019/02/14 XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価(C0549) [XPS]X線光電子分光法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
構造評価
CMOSセンサの総合評価 2018/11/29 CMOSセンサの総合評価(C0537) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
光デバイス
電子部品
組成評価・同定
形状評価
構造評価
グラフェンの官能基の評価 2018/11/08 グラフェンの官能基の評価(C0520) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
電子部品
二次電池
ディスプレイ
化学結合状態評価
AES分析による半田ボールの酸化膜厚評価 2018/11/01 AES分析による半田ボールの酸化膜厚評価(C0528) [AES]オージェ電子分光法
電子部品
製造装置・部品
組成評価・同定
組成分布評価
発生ガス濃縮装置を用いたアウトガス分析 2018/03/01 発生ガス濃縮装置を用いたアウトガス分析(B0241) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
電子部品
製造装置・部品
日用品
組成評価・同定
液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察 2018/02/08 液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察(C0508) [AFM]原子間力顕微鏡法
電子部品
ディスプレイ
製造装置・部品
医薬品
日用品
形状評価
ポジ型フォトレジストの構造解析 2018/01/18 ポジ型フォトレジストの構造解析(C0504) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
電子部品
組成評価・同定
TDSによる腐食性ガス分析 2017/12/28 TDSによる腐食性ガス分析(C0500) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
電子部品
製造装置・部品
微量濃度評価
故障解析・不良解析
その他
TDSによる有機膜の熱処理温度依存性評価 2017/12/21 TDSによる有機膜の熱処理温度依存性評価(C0499) [TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
その他
TDSによるレジスト膜の脱ガス評価 2017/12/21 TDSによるレジスト膜の脱ガス評価(C0498) [TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
照明
ディスプレイ
組成評価・同定
微量濃度評価
その他
炭素材料のラマンマッピング 2017/09/28 炭素材料のラマンマッピング(C0489) [Raman]ラマン分光法
電子部品
二次電池
製造装置・部品
医薬品
組成分布評価
構造評価
AESによるボンディング界面の元素分析 2017/09/14 AESによるボンディング界面の元素分析(C0486) [AES]オージェ電子分光法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
故障解析・不良解析
Si系IGBTチップ断面の低温顕微PL分析 2017/09/14 Si系IGBTチップ断面の低温顕微PL分析(C0485) [PL]フォトルミネッセンス法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
低温PL・SIMS分析によるSi基板に含まれる格子間型炭素の評価 2017/08/31 低温PL・SIMS分析によるSi基板に含まれる格子間型炭素の評価(C0481) [SIMS]二次イオン質量分析法
[PL]フォトルミネッセンス法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
微量濃度評価
構造評価
故障解析・不良解析
代表的な材料・目的別のTDS解析例 2017/03/30 代表的な材料・目的別のTDS解析例(B0232) [TDS]昇温脱離ガス分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
ディスプレイ
製造装置・部品
酸化物半導体
微量濃度評価
その他
石英・ガラス中の「水」の評価 2017/02/16 石英・ガラス中の「水」の評価(C0460) [SIMS]二次イオン質量分析法
その他
電子部品
ディスプレイ
微量濃度評価
劣化調査・信頼性評価
TOF-SIMSによる微小ビアのイメージ分析 2017/01/12 TOF-SIMSによる微小ビアのイメージ分析(C0454) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
電子部品
組成分布評価
故障解析・不良解析
AESによるCu表面変色部の評価 2016/12/01 AESによるCu表面変色部の評価(C0451) [AES]オージェ電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
LSI・メモリ
電子部品
製造装置・部品
組成評価・同定
組成分布評価
Si-IGBTチップのキャリア濃度分布評価 2016/12/01 Si-IGBTチップのキャリア濃度分布評価(C0443) [SIMS]二次イオン質量分析法
[SRA]広がり抵抗測定法
パワーデバイス
電子部品
微量濃度評価
製品調査
EGA-MS法による発生ガス分析 2016/12/01 EGA-MS法による発生ガス分析(B0229) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
電子部品
製造装置・部品
日用品
熱物性評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
TOF-SIMSによる微小領域の定性・イメージ分析 2016/11/24 TOF-SIMSによる微小領域の定性・イメージ分析(C0449) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
組成分布評価
はんだ剥離部断面のTOF-SIMS分析 2016/11/17 はんだ剥離部断面のTOF-SIMS分析(C0450) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
電子部品
故障解析・不良解析
ハートカットEGA法による発生ガス分析 2016/10/13 ハートカットEGA法による発生ガス分析(B0228) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
電子部品
製造装置・部品
日用品
熱物性評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
XAFSによるシリコン酸化膜評価 2016/10/06 XAFSによるシリコン酸化膜評価(C0439) [XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
二次電池
ディスプレイ
酸化物半導体
化学結合状態評価
構造評価

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