分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析 2023/03/09 バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析(C0690) [SEM]走査電子顕微鏡法
太陽電池
二次電池
燃料電池
形状評価
構造評価
故障解析・不良解析
第一原理計算によるワイドギャップ半導体 窒化ガリウム(GaN)における欠陥準位の解析 2022/12/08 第一原理計算によるワイドギャップ半導体 窒化ガリウム(GaN)における欠陥準位の解析(C0680) [PL]フォトルミネッセンス法
計算科学・AI・データ解析
パワーデバイス
太陽電池
酸化物半導体
その他
耐候性試験による製品劣化調査 2022/08/11 耐候性試験による製品劣化調査(C0676) その他
耐候性試験
光デバイス
電子部品
太陽電池
照明
ディスプレイ
日用品
劣化調査・信頼性評価
製品調査
安全性試験
HAXPESによるオージェピークの重複を回避した評価 2021/11/25 HAXPESによるオージェピークの重複を回避した評価(B0273) [XPS]X線光電子分光法
[HAXPES]硬X線光電子分光法
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
二次電池
燃料電池
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
量子化学計算によるイオン液体の熱分解反応の解析 2021/09/23 量子化学計算によるイオン液体の熱分解反応の解析(C0661) 計算科学・AI・データ解析
電子部品
太陽電池
二次電池
燃料電池
化学結合状態評価
構造評価
熱物性評価
マテリアルズインフォマティクス(MI)を用いた 新規有機半導体材料の構造探索 2021/06/17 マテリアルズインフォマティクス(MI)を用いた 新規有機半導体材料の構造探索(C0652) 計算科学・AI・データ解析
太陽電池
照明
ディスプレイ
医薬品
化粧品
日用品
その他
その他
信頼性試験の一覧 2020/10/08 信頼性試験の一覧(B0263) その他
耐候性試験
恒温恒湿試験
TCC試験
熱衝撃試験
振動試験
衝撃試験
接合強度試験
はんだ耐熱性試験
はんだ濡れ性試験
気密性試験
PIND試験
ESD試験
パワーデバイス
光デバイス
電子部品
太陽電池
照明
ディスプレイ
製造装置・部品
故障解析・不良解析
劣化調査・信頼性評価
半導体中キャリアの直流電圧依存性評価 2020/10/01 半導体中キャリアの直流電圧依存性評価(C0628) [SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
照明
酸化物半導体
形状評価
製品調査
STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価 2020/05/06 STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価(C0558) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
計算科学・AI・データ解析
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
二次電池
酸化物半導体
構造評価
ラマンマッピングによる応力評価 2020/05/06 ラマンマッピングによる応力評価(C0522) [Raman]ラマン分光法
LSI・メモリ
パワーデバイス
太陽電池
組成分布評価
構造評価
応力・歪み評価
低温PL・SIMS分析によるSi基板に含まれる格子間型炭素の評価 2020/05/06 低温PL・SIMS分析によるSi基板に含まれる格子間型炭素の評価(C0481) [SIMS]二次イオン質量分析法
[PL]フォトルミネッセンス法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
微量濃度評価
構造評価
故障解析・不良解析
高温XRDによる金属膜の評価 2020/05/06 高温XRDによる金属膜の評価(C0270) [XRD]X線回折法
LSI・メモリ
太陽電池
酸化物半導体
構造評価
ポリカーボネートの劣化層の評価 2020/05/06 ポリカーボネートの劣化層の評価(C0368) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
電子部品
太陽電池
日用品
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
TEM・SEMによる有機EL(OLED)・ゲート酸化膜の断面観察 2020/04/30 TEM・SEMによる有機EL(OLED)・ゲート酸化膜の断面観察(C0090) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
LSI・メモリ
太陽電池
照明
ディスプレイ
形状評価
膜厚評価
STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した多結晶体の結晶構造解析 2019/03/14 STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した多結晶体の結晶構造解析(C0557) [EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
計算科学・AI・データ解析
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
二次電池
酸化物半導体
構造評価
TDSによるグラフェン粉末の脱ガス分析 2019/02/21 TDSによるグラフェン粉末の脱ガス分析(C0553) [TDS]昇温脱離ガス分析法
太陽電池
二次電池
ディスプレイ
その他
微量濃度評価
その他
クリーンルーム内有機化合物の評価方法 2018/08/23 クリーンルーム内有機化合物の評価方法(B0245) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
太陽電池
ディスプレイ
酸化物半導体
微量濃度評価
界面および深さ方向分解能について 2018/07/05 界面および深さ方向分解能について(B0243) [SIMS]二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
太陽電池
ディスプレイ
酸化物半導体
微量濃度評価
酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価 2017/03/16 酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価(C0462) [XPS]X線光電子分光法
[XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
太陽電池
照明
酸化物半導体
その他
XAFSによるシリコン酸化膜評価 2016/10/06 XAFSによるシリコン酸化膜評価(C0439) [XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
二次電池
ディスプレイ
酸化物半導体
化学結合状態評価
構造評価
イオン注入及びアニール処理を行ったSiの低温フォトルミネッセンススペクトル 2016/07/28 イオン注入及びアニール処理を行ったSiの低温フォトルミネッセンススペクトル(C0434) [PL]フォトルミネッセンス法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
構造評価
故障解析・不良解析
有機膜材料の配向角評価 2015/08/20 有機膜材料の配向角評価(B0215) [XAFS]X線吸収微細構造
電子部品
太陽電池
照明
ディスプレイ
日用品
化学結合状態評価
構造評価
薄膜表面処理後の仕事関数評価 2015/05/28 薄膜表面処理後の仕事関数評価(C0382) [UPS]紫外光電子分光法
電子部品
太陽電池
ディスプレイ
その他
低温フォトルミネッセンス測定の注意事項 2015/05/14 低温フォトルミネッセンス測定の注意事項(B0208) [PL]フォトルミネッセンス法
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
照明
ディスプレイ
構造評価
SIMSによるSi中不純物の超高感度測定 2015/03/19 SIMSによるSi中不純物の超高感度測定(C0354) [SIMS]二次イオン質量分析法
LSI・メモリ
パワーデバイス
太陽電池
微量濃度評価
IC法によるSi含有溶液中のTMAH分析事例 2014/10/30 IC法によるSi含有溶液中のTMAH分析事例(C0359) [IC]イオンクロマトグラフ法
LSI・メモリ
太陽電池
製造装置・部品
環境
微量濃度評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
ポリカーボネート表面の劣化評価 2014/09/11 ポリカーボネート表面の劣化評価(C0356) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
太陽電池
日用品
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
CIGS薄膜太陽電池の原子レベル構造分析 2014/04/17 CIGS薄膜太陽電池の原子レベル構造分析(C0339) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
太陽電池
組成分布評価
形状評価
膜厚評価
構造評価
X線によるZn系バッファ層の複合評価 2013/07/04 X線によるZn系バッファ層の複合評価(C0282) [XPS]X線光電子分光法
[XRD]X線回折法
[XRR]X線反射率法
その他
太陽電池
酸化物半導体
組成評価・同定
化学結合状態評価
膜厚評価
構造評価
CIGS薄膜の組成分布分析 2012/08/23 CIGS薄膜の組成分布分析(C0236) [SIMS]二次イオン質量分析法
[ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
[XRF]蛍光X線分析法
その他
太陽電池
組成評価・同定
組成分布評価
膜厚評価
製品調査

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