分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
リチウムイオン二次電池負極材の構造評価 2020/09/24 リチウムイオン二次電池負極材の構造評価(C0627) X線CT法
二次電池
形状評価
構造評価
製品調査
リチウムイオン二次電池正極材の立体構造観察・解析 2020/08/27 リチウムイオン二次電池正極材の立体構造観察・解析(C0617) X線CT法
二次電池
形状評価
構造評価
製品調査
リチウムイオン二次電池負極の充放電サイクル試験後の劣化評価 2020/08/20 リチウムイオン二次電池負極の充放電サイクル試験後の劣化評価(C0194) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
二次電池
組成評価・同定
二次電池正極活物質の局所領域評価 2020/07/30 二次電池正極活物質の局所領域評価(C0614) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
二次電池
化学結合状態評価
組成分布評価
構造評価
製品調査
X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析 2020/07/30 X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析(C0613) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[SAXS]X線小角散乱法
二次電池
燃料電池
化粧品
その他
形状評価
二次電池正極活物質の総合評価 2020/07/09 二次電池正極活物質の総合評価(C0607) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[XRD]X線回折法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
二次電池正極の抵抗値およびLiの分布評価 2020/07/09 二次電池正極の抵抗値およびLiの分布評価(C0606) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
[IP法]Arイオン研磨加工
二次電池
組成分布評価
形状評価
製品調査
二次電池正極活物質の構造評価 2020/07/09 二次電池正極活物質の構造評価(C0605) [SEM]走査電子顕微鏡法
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
二次電池
形状評価
構造評価
製品調査
二次電池セパレータの構造評価 2020/07/09 二次電池セパレータの構造評価(C0604) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
二次電池電解液の組成評価 2020/06/11 二次電池電解液の組成評価(C0595) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
二次電池
組成評価・同定
微量濃度評価
化学結合状態評価
製品調査
二次電池正極・負極バインダの成分評価 2020/06/11 二次電池正極・負極バインダの成分評価(C0594) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
二次電池
化学結合状態評価
製品調査
二次電池正極活物質の劣化評価 2020/06/11 二次電池正極活物質の劣化評価(C0593) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Raman]ラマン分光法
[XRD]X線回折法
二次電池
組成評価・同定
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
全固体電池の分析 2020/05/28 全固体電池の分析(C0591) その他
二次電池
組成評価・同定
構造評価
二次電池正極導電助剤の分散状態評価 2020/05/28 二次電池正極導電助剤の分散状態評価(C0590) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Raman]ラマン分光法
二次電池
組成分布評価
構造評価
製品調査
二次電池正極材料のリートベルト解析 2020/05/21 二次電池正極材料のリートベルト解析(C0589) [ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
[XRD]X線回折法
計算科学・データ解析
二次電池
組成評価・同定
構造評価
製品調査
二次電池正極表面被膜の組成分析 2020/05/21 二次電池正極表面被膜の組成分析(C0588) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[AES]オージェ電子分光法
[XPS]X線光電子分光法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
製品調査
STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価 2020/05/06 STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価(C0558) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
計算科学・データ解析
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
二次電池
酸化物半導体
構造評価
炭素材料のラマンマッピング 2020/05/06 炭素材料のラマンマッピング(C0489) [Raman]ラマン分光法
電子部品
二次電池
製造装置・部品
医薬品
組成分布評価
構造評価
SEMによる極低加速電圧条件での微細構造観察 2020/05/06 SEMによる極低加速電圧条件での微細構造観察(C0336) [SEM]走査電子顕微鏡法
二次電池
形状評価
分子動力学シミュレーションによるLIB(リチウムイオン)電解液の解析 2020/04/30 分子動力学シミュレーションによるLIB(リチウムイオン)電解液の解析(C0584) 計算科学・データ解析
二次電池
構造評価
リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化 2020/04/30 リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化(C0577) [XRD]X線回折法
計算科学・データ解析
二次電池
ディスプレイ
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
構造評価
TEM観察によるLIB(リチウムイオン)正極材料の解析 2020/04/30 TEM観察によるLIB(リチウムイオン)正極材料の解析(C0475) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
[ED]電子回折法
二次電池
組成評価・同定
組成分布評価
構造評価
LIB(リチウムイオン)正極材料の抵抗分布評価 2020/04/30 LIB(リチウムイオン)正極材料の抵抗分布評価(C0315) [SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
二次電池
組成分布評価
形状評価
劣化調査・信頼性評価
真空中での有機成分の脱離評価 2019/05/30 真空中での有機成分の脱離評価(C0566) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[TDS]昇温脱離ガス分析法
電子部品
二次電池
ディスプレイ
微量濃度評価
その他
リチウムイオン二次電池内部の非破壊観察 2019/05/30 リチウムイオン二次電池内部の非破壊観察(C0565) X線CT法
二次電池
形状評価
構造評価
製品調査
STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した多結晶体の結晶構造解析 2019/03/14 STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した多結晶体の結晶構造解析(C0557) [EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
計算科学・データ解析
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
太陽電池
二次電池
酸化物半導体
構造評価
TDSによるグラフェンの脱ガス分析 2019/02/21 TDSによるグラフェンの脱ガス分析(C0553) [TDS]昇温脱離ガス分析法
太陽電池
二次電池
ディスプレイ
その他
微量濃度評価
その他
グラフェンの官能基の評価 2018/11/08 グラフェンの官能基の評価(C0520) [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
電子部品
二次電池
ディスプレイ
化学結合状態評価
カールフィッシャー電量滴定法における試料導入方法 2018/03/15 カールフィッシャー電量滴定法における試料導入方法(B0242) カールフィッシャー滴定法
二次電池
医薬品
化粧品
日用品
食品
微量濃度評価
TOF-SIMSによる粉体粒子表面の分布評価 2017/12/21 TOF-SIMSによる粉体粒子表面の分布評価(C0497) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
二次電池
組成分布評価

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